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龙图腾网获悉北京航空航天大学申请的专利一种多切片同步扫描的磁粒子成像系统及方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN120044457B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-08-05发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510519751.2，技术领域涉及：G01R33/12；该发明授权一种多切片同步扫描的磁粒子成像系统及方法是由田捷;陈梓威;李怡濛;安羽;卞忠伟;李光辉设计研发完成，并于2025-04-24向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种多切片同步扫描的磁粒子成像系统及方法在说明书摘要公布了：本发明属于磁性纳米粒子成像技术领域，涉及一种多切片同步扫描的磁粒子成像系统及方法，旨在解决现有FFL‑MPI设备视野狭小、成像平面单一、扫描速度慢等问题。本发明包括：向激励模块和多切片梯度模块分别提供激励电流和用于控制轴向平移及径向旋转的动态梯度电流；多切片梯度模块由多个FFL梯度单元组成，每个FFL梯度单元的轴向平移电流相位依次递增，互不相同，实现FFL轴向快速运动；激励模块用于产生激励磁粒子的激励磁场；信号检测模块接收响应信号，经过外置信号补偿和信号处理后，传输至控制与处理模块进行算法重建。本发明可以在空间内同时对多个径向切片成像，突破单一成像平面的限制，提升轴向成像视野和扫描速度。

本发明授权一种多切片同步扫描的磁粒子成像系统及方法在权利要求书中公布了：1.一种多切片同步扫描的磁粒子成像系统，该系统包括控制与处理模块、信号处理模块、信号检测模块、信号采集与输出模块，其特征在于，所述系统还包括：多切片梯度模块、激励模块和外置信号补偿模块； 所述多切片梯度模块，包括N个沿长度方向均匀等距排布的FFL梯度单元；沿轴向每个FFL梯度单元通入的轴向平移电流相位依次增加；每个FFL梯度单元包括四个梯度线圈，且相互平行的两个梯度线圈为一对，两对梯度线圈径向正交布置，两对梯度线圈分别施加相同的轴向平移电流和差异化的径向旋转电流，从而实现FFL的轴向同步快速扫描和径向旋转；所述激励模块，包括N组沿长度方向均匀等距排布的激励线圈； 所述控制与处理模块产生多切片梯度模块所需的轴向平移电流、径向旋转电流和激励模块所需的激励电流； 所述多切片梯度模块接收轴向平移电流和径向旋转电流，产生多个无磁场线，基于预设的控制策略控制无磁场线沿轴向方向旋转扫描；所述激励模块接收激励电流，驱动无磁场线沿垂直方向快速移动，进而驱动磁粒子产生响应信号；所述信号检测模块的接收线圈单个长度小于两个所述FFL的间距，所述多切片梯度模块的轴向长度和所述激励模块的轴向长度相同； 所述信号检测模块采集所述响应信号，并经过外置信号补偿模块、信号处理模块得到粒子响应信号，由信号采集与输出模块返回控制与处理模块，通过预设的算法进行图像重建，实现磁粒子成像。

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