买专利卖专利找龙图腾，真高效！ 查专利查商标用IPTOP,全免费！专利年费监控用IP管家,真方便！

龙图腾网获悉北京燧原智能科技有限公司申请的专利一种芯片随机测试方法、装置、设备及存储介质获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN120044379B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-08-05发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510503777.8，技术领域涉及：G01R31/28；该发明授权一种芯片随机测试方法、装置、设备及存储介质是由丁鹤群;李爽;王瑞设计研发完成，并于2025-04-22向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种芯片随机测试方法、装置、设备及存储介质在说明书摘要公布了：本发明公开了一种芯片随机测试方法、装置、设备及存储介质，包括：获取待测芯片对应的架构描述文档，分析待测芯片中各子模块的特性信息以及各子模块之间的交互关系；确定各子模块对应的约束条件，并根据约束条件确定各子模块对应的多个测试场景；在顶层验证环境中对各子模块对应的约束条件进行集成，根据集成结果在多个测试场景中确定各子模块对应的目标测试场景；根据架构描述文档确定待测芯片对应的多个随机测试场景，根据目标测试场景与随机测试场景，生成待测芯片对应的多个随机测试用例。本发明实施例的技术方案可以显著提高芯片的随机测试效率以及测试结果的准确性，减少对仿真资源的需求，提升芯片测试过程的完整性和可靠性。

本发明授权一种芯片随机测试方法、装置、设备及存储介质在权利要求书中公布了：1.一种芯片随机测试方法，其特征在于，所述方法包括： 获取待测芯片对应的架构描述文档，根据所述架构描述文档，分析待测芯片对应的寄存器传输级RTL电路结构信息； 根据所述RTL电路结构信息，分析待测芯片的整体架构信息； 根据所述待测芯片的整体架构信息，分析待测芯片中各子模块的特性信息，以及各子模块之间的交互关系；所述交互关系包括子模块之间的依赖关系；所述子模块的特性信息包括outstanding特性、constraint复用性； 根据各子模块的特性信息，以及各子模块之间的交互关系，确定各子模块对应的约束条件，并根据所述约束条件确定各子模块对应的多个测试场景； 在顶层验证环境中，对各子模块对应的约束条件进行集成，根据集成结果在所述多个测试场景中确定各子模块对应的目标测试场景； 根据所述架构描述文档，确定待测芯片对应的多个随机测试场景，根据所述目标测试场景与随机测试场景，生成待测芯片对应的多个随机测试用例； 所述根据集成结果在所述多个测试场景中确定各子模块对应的目标测试场景，包括：根据集成结果，对待测芯片中各子模块对应的约束条件进行分层求解；根据求解结果，在所述多个测试场景中确定各子模块对应的目标测试场景。

如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术，可联系本专利的申请人或专利权人北京燧原智能科技有限公司，其通讯地址为：100191 北京市海淀区知春路23号14层1401、1403、1405、1407室；或者联系龙图腾网官方客服，联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。