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龙图腾网获悉上海凯来仪器有限公司申请的专利一种三维激光后电离－二次中子颗粒质谱仪获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119650403B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-08-05发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510157069.3，技术领域涉及：H01J49/16；该发明授权一种三维激光后电离－二次中子颗粒质谱仪是由胡勇刚;陈国荣设计研发完成，并于2025-02-13向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种三维激光后电离－二次中子颗粒质谱仪在说明书摘要公布了：本发明公开了一种三维激光后电离－二次中子颗粒质谱仪，包括真空池、样品导入系统、一次离子发射系统、三维激光后电离系统、离子光学系统、飞行时间质谱仪、观察系统及计算机控制系统，本发明通过采用可调谐激光器，可以通过调整激光器的波长、频率与能量值来使激光光子的能量与目标分子电子能级的共振来实现物质的选择性离子化，这种方法具有极高的元素、核素、分子选择性，可以提供仪器的灵敏度，可应用于分子量小于1000Da的脂质、代谢物、小分子药物和部分元素的单细胞成像分析测试，解决空间代谢组小分子代谢物测试和超高空间分辨率成像问题，不使用激光后电离时，可单独作为SIMS使用。

本发明授权一种三维激光后电离－二次中子颗粒质谱仪在权利要求书中公布了：1.一种三维激光后电离－二次中子颗粒质谱仪，其特征在于：包括真空池1、样品导入系统2、一次离子发射系统3、三维激光后电离系统4、离子光学系统6、飞行时间质谱仪7、观察系统5和计算机控制系统，所述真空池1包含移动台11、冷冻池12、样品支架13、多级真空泵组14，所述样品导入系统2由推杆、样品管、高真空闸阀及预抽真空室组成，所述一次离子发射系统3包含离子源和离子镜筒32，所述三维激光后电离系统4包括激光源41、光路系统42、振镜43、场镜44和粒子云团45； 所述光路系统42包括反射镜421、衰减器422、扩束镜423和光束整形系统424，用于将激光源41发出的激光束调整到所需要的光束；所述振镜43指三轴振镜系统或二轴振镜系统，所述三轴振镜系统主要包括移动镜头、聚焦镜头、X轴振镜和Y轴振镜，所述二轴振镜系统，主要包括X轴振镜和Y轴振镜；所述激光源41为可调谐激光器，波长范围325nm～2500nm，所述振镜43扫描速度大于30ms； 通过采用可调谐激光器，通过调整激光器的波长、频率与能量值来使激光光子的能量与目标分子电子能级的共振来实现物质的选择性离子化。

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