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龙图腾网获悉深圳市晶存科技股份有限公司申请的专利一种存储器的测试参数确定方法、系统、装置及存储介质获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119559998B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-08-05发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510113141.2，技术领域涉及：G11C29/56；该发明授权一种存储器的测试参数确定方法、系统、装置及存储介质是由刘孜设计研发完成，并于2025-01-24向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种存储器的测试参数确定方法、系统、装置及存储介质在说明书摘要公布了：本发明公开了一种存储器的测试参数确定方法、系统、装置及存储介质，方法包括：获取存储器的性能需求信息；根据性能需求信息和预设性能参数表确定第一参数类型；基于第一参数类型对存储器进行第一性能测试得到第一测试结果；在第一测试结果表征存储器的性能值大于或等于性能期望值的情况下，将第一参数类型配置为存储器的测试参数；在第一测试结果表征存储器的性能值小于性能期望值的情况下，对第一参数类型进行修正得到第二参数类型；将第二参数类型配置为存储器的测试参数。能够根据存储器的性能需求确定相应的参数类型，使得测试满足性能需求，且提高测试效率。

本发明授权一种存储器的测试参数确定方法、系统、装置及存储介质在权利要求书中公布了：1.一种存储器的测试参数确定方法，其特征在于，包括： 获取存储器的性能需求信息，所述性能需求信息表征所述存储器的性能期望值； 根据所述性能需求信息和预设性能参数表确定第一参数类型，所述第一参数类型包括一种或多种参数； 基于所述第一参数类型对所述存储器进行第一性能测试得到第一测试结果，所述第一性能测试表征调整所述第一参数类型的参数值后测试所述存储器的性能值，并将所述存储器的性能值与性能期望值进行比较得到第一比较结果； 在所述第一测试结果表征所述存储器的性能值大于或等于性能期望值的情况下，将所述第一参数类型配置为所述存储器的测试参数； 在所述第一测试结果表征所述存储器的性能值小于性能期望值的情况下，对所述第一参数类型进行修正得到第二参数类型，其中，所述第二参数类型与所述第一参数类型的差集不等于空集，基于所述第二参数类型对所述存储器进行第二性能测试的第二测试结果表征所述存储器的性能值大于或等于性能期望值； 将所述第二参数类型配置为所述存储器的测试参数； 在所述性能需求信息表征所述存储器的多个预设性能指标的性能期望值的情况下：获取多个所述预设性能指标的性能期望值与当前性能值之间的性能差值,所述当前性能值表征所述预设性能指标在进行所述第一性能测试之前的性能值；获取第二参数类型中的N参数与多个所述预设性能指标之间的关联图谱；根据所述关联图谱和所述性能差值确定N参数的参数值,所述N参数表征所述第二参数类型中任意一个参数，所述关联图谱用于指示N参数单位变化时多个所述预设性能指标的性能值变化。

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