北京智芯微电子科技有限公司;北京智芯半导体科技有限公司刘辉志获国家专利权
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龙图腾网获悉北京智芯微电子科技有限公司;北京智芯半导体科技有限公司申请的专利故障注入方法、装置和电子设备获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN118733369B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-08-05发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202410755123.X，技术领域涉及：G06F11/263；该发明授权故障注入方法、装置和电子设备是由刘辉志;涂因子;刘梦;于艳艳;胡晓波;李建强设计研发完成，并于2024-06-12向国家知识产权局提交的专利申请。
本故障注入方法、装置和电子设备在说明书摘要公布了：本发明提供一种故障注入方法、装置和电子设备，属于芯片技术领域。方法包括：获取待测芯片工作时能量曲线；对能量曲线进行信号处理，以筛选出待测芯片在能量曲线中的执行运算时间区间；基于待测芯片的输入数据与能量曲线的相关性，以及待测芯片输出数据与能量曲线的相关性，计算出执行运算时间区间中的关键时间点；获取待测芯片版图的功能区域分布图；基于功能区域分布图中待故障注入对象的故障防护类型，确定故障注入扫描方式；基于故障注入扫描方式进行故障注入扫描，基于扫描结果确定关键物理位置点。本发明基于时空双域的故障注入方法，从时间域和空间域分别进行关键时间点和关键物理位置点定位，提高故障注入精准度和故障注入攻击效率。
本发明授权故障注入方法、装置和电子设备在权利要求书中公布了：1.一种故障注入方法，其特征在于，包括： 获取待测芯片工作时的能量曲线； 对所述能量曲线进行信号处理，以筛选出所述待测芯片在能量曲线中的执行运算时间区间； 基于所述待测芯片的输入数据与所述能量曲线的相关性，以及所述待测芯片的输出数据与所述能量曲线的相关性，计算出所述执行运算时间区间中的关键时间点； 获取待测芯片版图的功能区域分布图； 基于所述功能区域分布图中待故障注入对象的故障防护类型，确定故障注入扫描方式； 基于所述故障注入扫描方式进行故障注入扫描，基于扫描结果确定关键物理位置点。
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2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。
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