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龙图腾网获悉西北电子装备技术研究所(中国电子科技集团公司第二研究所)申请的专利一种超大尺寸陶瓷基板图像配准方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN117011351B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-08-05发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202311060874.1，技术领域涉及：G06T7/33；该发明授权一种超大尺寸陶瓷基板图像配准方法是由李欣;杨卫;靳宇婷;高宇琦;董永谦;王增琴;雷旺雄;郝靖飞;郑鑫荣设计研发完成，并于2023-08-22向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种超大尺寸陶瓷基板图像配准方法在说明书摘要公布了：本发明涉及陶瓷基板图像配准技术领域，公开了一种超大尺寸陶瓷基板图像配准方法，包括以下步骤：获取多个线扫相机的图像；完整图像拼接；模板图与待测图像之间的粗配准；模板图与待测图像之间的精配准；精配准结果的全局应用。本发明基于两个线扫相机获取的31000×16000的两张图像，获取其拼接矩阵，对模板图像和待检测图像进行粗配准和细配准，并将精配准结果应用到全局，得到高效的鲁棒配准矩阵，提高了检测准确度，降低检测误检率和漏检率。此外，通过两个线扫相机成像方式，缓解了单个线扫相机覆盖范围不够大的问题，实现了检测数据规模的扩增；使用由粗到精的配准方式在保证配准精度的同时实现了速度的加快。

本发明授权一种超大尺寸陶瓷基板图像配准方法在权利要求书中公布了：1.一种超大尺寸陶瓷基板图像配准方法，其特征在于，包括以下步骤： S1、获取多个线扫相机的图像 将多个线扫相机并排安装，使其达到彼此之间位置相对固定，在扫描过程中，保证相邻的线扫相机扫描区域中存在彼此重叠部分； S2、完整图像拼接 基于步骤S1的位置设定，建立数学模型假设，即任意两张线扫相机之间的图像变换矩阵都属于仿射变换，以及其仿摄变换矩阵固定；基于此，离线计算多个线扫相机直接的拼接矩阵，并将计算结果进行存储；当在线使用时，直接读取离线计算矩阵进行图像拼接； S3、模板图与待测图像之间的粗配准 首先将图像缩小m倍，得到小尺寸的图像，然后利用SIFT特征来计算小尺寸图像之间的变换矩阵； S4、模板图与待测图像之间的精配准 经过步骤S3配准后的图像表现为两组图像之间存在着1～20个像素的不配准差异，采用局部区域配准的方式来实现精配准； 精配准计算方法如下步骤： S4-1、选取源图像，即陶瓷基板电路图形中纹理特征丰富的区域进行裁剪，裁剪面积为源图像的1； S4-2、通过计算两副裁剪的图像之间的变换矩阵，得到精配准的矩阵； S5、精配准结果的全局应用 经过步骤S4得到的精配准矩阵，不能直接应用于两组源图像，需要经过以下步骤： S5-1、对齐局部裁剪区域与整体源图像之间的坐标关系，将两组坐标整合到同一参考系中； S5-2、利用精配准矩阵进行采样，获取一定量的对应点； S5-3、将对应点坐标由局部图转换到整体图坐标，利用得到的整体图坐标计算最终的源图像精配准矩阵。

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