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国科大杭州高等研究院姚雨笙获国家专利权

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龙图腾网获悉国科大杭州高等研究院申请的专利一种基于双重阈值的红外焦平面探测器闪元测试方法获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN116380257B

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-08-05发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202310354790.2,技术领域涉及:G01J5/90;该发明授权一种基于双重阈值的红外焦平面探测器闪元测试方法是由姚雨笙;陈建新;周易;柴旭良;黄敏;徐志成设计研发完成,并于2023-04-06向国家知识产权局提交的专利申请。

一种基于双重阈值的红外焦平面探测器闪元测试方法在说明书摘要公布了:本发明公开了一种基于双重阈值的红外焦平面探测器闪元测试方法,涉及红外焦平面探测器性能测试技术领域,首先设置面源黑体的温度,测得红外焦平面探测器在所述温度下的输出电压;连续采集红外焦平面探测器的F帧响应数据;筛选并剔除焦平面中的盲元;在焦平面剩余像元中,标记像元噪声大于规定阈值σ1的像元为时间噪声闪元,标记像元波动性参数大于规定阈值σ2的像元为波动性闪元,并记录位置;对时间噪声闪元和波动性闪元取并集,即为焦平面闪元。本发明同时关注焦平面中像元的时间噪声和像元时域响应的整体波动性,避免了对不同特征闪元的错检和漏检,实现了对影响红外焦平面探测器工作精度和稳定性的闪元的有效检测。

本发明授权一种基于双重阈值的红外焦平面探测器闪元测试方法在权利要求书中公布了:1.一种基于双重阈值的红外焦平面探测器闪元测试方法,其特征在于,包括以下步骤: 步骤1、根据红外焦平面探测器的响应波长,设置面源黑体的温度,并测得红外焦平面探测器在温度下的输出电压; 步骤2、连续采集红外焦平面探测器的F帧响应数据; 步骤3、筛选并剔除焦平面中的盲元; 步骤4、在焦平面剩余像元中,标记像元噪声大于规定阈值的像元为时间噪声闪元,并记录位置,像元噪声计算公式为: ;其中,F为采集的响应数据帧数,为像元在温度下第f帧的响应数据,为像元在温度下全部F帧响应数据的均值; 步骤5、在焦平面剩余像元中,标记像元波动性参数大于规定阈值的像元为波动性闪元,并记录位置,像元波动性参数的计算方法为: 步骤5.1、将连续的F帧响应数据分为n段,每段含m帧数据; 步骤5.2、对每个像元,分别求出n段数据的响应均值,对相邻的均值差分,,得到新的差分序列; 步骤5.3、对得到的差分序列求标准差得到像元波动性参数; 步骤6、对所有的时间噪声闪元和波动性闪元取并集,即为焦平面闪元。

如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术,可联系本专利的申请人或专利权人国科大杭州高等研究院,其通讯地址为:310024 浙江省杭州市西湖区象山支路1号国科大杭州高等研究院;或者联系龙图腾网官方客服,联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。

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