北京环境特性研究所刘拓获国家专利权
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龙图腾网获悉北京环境特性研究所申请的专利低噪声放大器饱和恢复时间的测量方法及系统获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN116298544B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-08-05发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202310304525.3,技术领域涉及:G01R29/08;该发明授权低噪声放大器饱和恢复时间的测量方法及系统是由刘拓;张英南;孔德旺;吴洋;安兆彬;刘紫薇;姜涌泉设计研发完成,并于2023-03-27向国家知识产权局提交的专利申请。
本低噪声放大器饱和恢复时间的测量方法及系统在说明书摘要公布了:本发明涉及一种低噪声放大器饱和恢复时间的测量方法及系统。方法包括:利用第一信号源产生第一频率和第一功率的第一信号,该功率不小于低噪声放大器的饱和输入功率;利用第二信号源产生第二频率和第二功率的第二信号,该功率小于低噪声放大器的饱和输入功率,第二频率和第一频率不相等;利用测试接收机测量第二信号的功率,接收机的接收频率等于第二频率;利用脉冲发生器产生第一脉冲和第二脉冲;根据接收机接收到的功率与预设功率的差值,调整第二脉冲的脉冲参数,直至测试接收机接收到的功率与预设功率相等;基于第二脉冲的最终脉冲参数和第一脉冲的脉冲参数,确定低噪声放大器的饱和恢复时间。该方法能够准确测量低噪声放大器的饱和恢复时间。
本发明授权低噪声放大器饱和恢复时间的测量方法及系统在权利要求书中公布了:1.一种低噪声放大器饱和恢复时间的测量方法,应用于低噪声放大器饱和恢复时间的测量系统,系统包括第一发射链路、第二发射链路、接收链路、脉冲发生器和合路器,所述接收链路包括依次连接的被测低噪声放大器和测试接收机,所述第一发射链路包括依次连接的第一信号源和第一射频开关,所述第二发射链路包括依次连接的第二信号源和第二射频开关,所述第一射频开关和所述第二射频开关分别与所述合路器的入口端连接,所述合路器的出口端与所述低噪声放大器的输入端连接,所述脉冲发生器分别与所述第一射频开关和所述第二射频开关连接;所述方法包括: 利用所述第一信号源产生第一频率和第一功率的第一信号,所述第一功率不小于所述低噪声放大器的饱和输入功率; 利用所述第二信号源产生第二频率和第二功率的第二信号,所述第二功率小于所述低噪声放大器的饱和输入功率,所述第一频率和所述第二频率均位于所述低噪声放大器的工作频段,且所述第二频率和所述第一频率不相等; 利用所述测试接收机测量经所述低噪声放大器放大后的第二信号的功率,所述测试接收机的接收频率等于所述第二频率; 利用所述脉冲发生器产生第一脉冲和第二脉冲,所述第一脉冲用于控制所述第一射频开关的通断,所述第二脉冲用于控制所述第二射频开关的通断; 根据所述测试接收机接收到的功率与预设功率的差值,调整所述第二脉冲的脉冲参数,直至所述测试接收机接收到的功率与预设功率相等,确定所述第二脉冲的最终脉冲参数; 基于所述第二脉冲的最终脉冲参数和所述第一脉冲的脉冲参数,确定所述低噪声放大器的饱和恢复时间。
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