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龙图腾网获悉华南师范大学申请的专利一种用于定量FRET成像的激发光强度自动校准装置及方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN116593427B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-08-05发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202310235910.7，技术领域涉及：G01N21/64；该发明授权一种用于定量FRET成像的激发光强度自动校准装置及方法是由罗泽伟;孔梦婷;陈同生设计研发完成，并于2023-03-13向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种用于定量FRET成像的激发光强度自动校准装置及方法在说明书摘要公布了：本发明公开了一种用于定量FRET成像的激发光强度自动校准装置及方法，该装置包括FRET多波长合束光源，光束分束装置，光强探测器，下位机以及上位机；FRET多波长合束光源用于产生FRET显微成像过程中供体通道和受体通道的激发光，光束分束装置用于对激发光进行分光，光强探测器用于用于探测该分光光路供受体激发光的部分光强，下位机通过接收上位机的指令完成通道选择和光强控制，上位机用于收集光强探测器发送的通道的激发光强信息并进行处理，将补偿指令发送给下位机。本发明为独立模块设计，可以方便的放置于任意多波长合束光源的输出光路，灵活适用于不同的实验环境；可以根据FRET实验要求控制供受体激发光输出强度及供受体强度比，适合定量FRET检测。

本发明授权一种用于定量FRET成像的激发光强度自动校准装置及方法在权利要求书中公布了：1.一种用于定量FRET成像的激发光强度自动校准方法，其特征在于，包括以下步骤： 获取DA通道光源基线值、染料及通道光强比配置； 根据DA通道光源基线值拟合得到DA通道光源基线线性区间，具体为： 采用Sigmoid函数通过最小二乘拟合DA通道光源基线，选取所得Sigmoid函数拟合结果的二阶导数的拐点作为线性范围区间的端点得到光源基线线性区间； 根据光强比配置得到DA通道光强线性区间的映射关系并获得当前配置下FRET激发光强度调整函数； 根据FRET激发光强度调整函数遍历调制量程范围，得到所有点的DA通道光强理论值，并利用光强探测器测量DA通道光强实际值； 根据DA通道光强理论值和实际值，计算DA通道光强比值偏差； 判断DA通道光强比偏差是否小于设定阈值： 当偏差大于阈值时，通过闭环控制补偿DA通道光强线性区间FRET激发光强度调整函数参数并重新测量、计算DA通道光强比值偏差； 当偏差小于阈值时，根据上述步骤中定量荧光共振能量转移成像的激发光强度自动校准结果判断串扰系数是否已知；当串扰系数未知时重新测量该通道染料及光强比配置对应的串扰系数，当串扰系数已知时保存当前配置下FRET激发光强度调整函数以及串扰系数结果。

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