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龙图腾网获悉南京大学申请的专利一种采用非辐射能量转移技术实时检测流场中接枝在表面的高分子链构象的方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115931807B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-08-05发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202211648293.5，技术领域涉及：G01N21/64；该发明授权一种采用非辐射能量转移技术实时检测流场中接枝在表面的高分子链构象的方法是由陈葳;李晓璐;薛奇;周东山;王晓亮;李华正设计研发完成，并于2022-12-21向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种采用非辐射能量转移技术实时检测流场中接枝在表面的高分子链构象的方法在说明书摘要公布了：本发明的目的是提供一种获取粒子表面高分子在流场中的构象信息的方法，该方法利用高分子链上荧光基团对的非辐射荧光能量转移，实现剪切场中接枝在粒子表面的高分子链的构象的实时检测，检测精度可以达级。通过本方法，可以得出不同分子量、不同接枝率的纳米粒子表面高分子链构象随剪切速率变化的一般规律，从而在要求纳米粒子表面的高分子链在特定剪切速率中维持特定构象的场景中，根据所得的规律确定目标纳米粒子表面接枝的高分子的链长、接枝密度等参数，为实现精确纳米制造提供保障。

本发明授权一种采用非辐射能量转移技术实时检测流场中接枝在表面的高分子链构象的方法在权利要求书中公布了：1.一种采用非辐射能量转移技术实时检测流场中接枝在纳米粒子表面的高分子链构象的方法，其特征在于，包括如下步骤： 步骤1，在高分子链的两端分别键合荧光受体基团和荧光供体基团，再将高分子链的一端接枝于纳米粒子的表面； 步骤2，将步骤1中获得的接枝了高分子链的纳米粒子分散于溶剂中，施加剪切，并通过荧光光谱仪向分散液发射激发光，通过接收器对荧光发射光谱进行接收，通过荧光受体基团和荧光供体基团特征峰强的比值变化反映接枝在纳米粒子表面的高分子链的链末端距随剪切速率变化趋势； 还包括预测纳米粒子表面接枝的高分子链在流场中构象随剪切速率变化关系的步骤，包括如下步骤： 步骤a，将自由高分子链溶解于溶剂中，施加剪切，并通过荧光光谱仪向溶液发射激发光，通过接收器对荧光发射光谱进行接收，通过荧光受体基团和荧光供体基团特征峰强的比值变化反映自由高分子链的链末端距随剪切速率变化规律； 步骤b，通过如下关系式计算出接枝在纳米粒子表面的高分子链在不同流场剪切力下的荧光受体基团和荧光供体基团特征峰强的比值： 为剪切速率，为表征接枝于粒子表面的高分子链交叠程度的参数；χ为表征链间相互作用的参数，τ为高分子松弛时间，为接枝于纳米粒子表面的高分子链的荧光受体基团和荧光供体基团特征峰强的比值，为自由的高分子链的荧光受体基团和荧光供体基团特征峰强的比值。

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