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龙图腾网获悉中国科学院合肥物质科学研究院申请的专利成像光谱仪面阵探测器的PRNU特性测定方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115876323B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-08-05发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202211508835.9，技术领域涉及：G01J3/28；该发明授权成像光谱仪面阵探测器的PRNU特性测定方法是由常振;赵欣;司福祺;王煜;张晓莉;周海金;黄书华设计研发完成，并于2022-11-29向国家知识产权局提交的专利申请。

本成像光谱仪面阵探测器的PRNU特性测定方法在说明书摘要公布了：本发明的一种成像光谱仪面阵探测器的PRNU特性测定方法，通过基于单色LED和光学小孔组建光学模型，通过衍射光斑的光场模型拟合方法可获取理想校正光源，结构简单，降低了光源引入的PRNU校正误差，实现了低成本、高精度PRNU测试；通过光斑尺寸、位置调整可实现在单个探测器上对不同区域像元进行不同波段光照辐射，且可设置对照组区域，实现对成像光谱仪探测器的PRNU与波段的关系研究和PRNU与辐照时间的关系研究，提升了研究效率和可靠性。

本发明授权成像光谱仪面阵探测器的PRNU特性测定方法在权利要求书中公布了：1.一种成像光谱仪面阵探测器的PRNU特性测定方法，其特征在于，包括以下步骤， S1、搭建光学系统，并通过激光准直方法使λpq波段的单色LED、光学针孔、探测器焦面满足傍轴近似条件； S2、调整探测器与衍射孔的相对位置，使衍射光斑位于探测器像元区域Zpq； S3、调整LED驱动电流，在固定曝光时间下使图像中光斑最大亮度达到探测器满量程的90%； S4、调整衍射屏与探测器焦面的水平距离，同时保持傍轴近似条件，使光斑面积占据探测器像元M×N； S5、对探测器进行持续辐照，持续数据为t，初始化令t=0； S6、对光斑进行按固定曝光时间成像，并获取L幅图像数据后求取平均图像，得到探测器实际获取的光斑数据值Udni,j，i,j为像元行列号； S7、依据衍射光斑光强分布模型即公式（9）结合光斑实际数据值拟合得到光斑模型值Ui,j； （9） 即为衍射光斑的离散化函数，表示衍射光斑上第m行、第n列像元的光强值，m取值范围为0：M-1，n取值范围为0：N-1，表示共M*N个像元；表示衍射屏函数的离散化，将其划分为与接收屏同样数量； S8、根据PRNU因子计算公式即公式（10），根据光斑M'×N'区域的数据值得到λpq，t； 选取中央光斑中M’行、N’列像元进行计算，模型值与实际获取数据值的偏差即为探测器PRNU因子的数值： ； S9、调整辐照时间t，令t=t+2h，即增加2小时辐照时间，重复步骤S5~S8，直到时间达到设定的总时长tend； S10、绘制探测器在波段λpq光辐照下的PRNU因子随时间的变化关系，λpq，t-t曲线； 重复步骤S1~S10，获取其他波长的λpq，t-t曲线; 通过上述步骤获取多波段下的λpq，t-t曲线，即可测定探测器在不同波段光辐照下的PRNU特性随辐照时间的衰减变化规律。

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