上海国微芯芯半导体有限公司郭军获国家专利权
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龙图腾网获悉上海国微芯芯半导体有限公司申请的专利一种逐次逼近型模数转换器、过采样方法及装置获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115833835B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-08-05发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202211450929.5，技术领域涉及：H03M1/12；该发明授权一种逐次逼近型模数转换器、过采样方法及装置是由郭军;王良清;鲁金梅设计研发完成，并于2022-11-18向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种逐次逼近型模数转换器、过采样方法及装置在说明书摘要公布了：本公开实施例中提供了一种逐次逼近型模数转换器、过采样方法及装置。通过本公开的处理方案，利用过采样期间同一模拟信号一般变化不大且采样误差不超过2M的特性，在常规SARADC转换器的基础上，增加了过采样误差范围信号、过采样使能信号、上一组结果寄存器及支持过采样的控制逻辑电路。当过采样使能有效时，尽量采用上一次结果寄存器的高位结果，从中间某位开始向低位逐次逼近确定剩余结果位。在不显著增加硬件资源的情况下，能有效提高SARADC对模拟信号连续多次采样转换的转换效率，缩短模拟信号过采样时间。
本发明授权一种逐次逼近型模数转换器、过采样方法及装置在权利要求书中公布了：1.一种逐次逼近型模数转换器过采样方法，其特征在于，包括： 若接收到过采样使能信号，则获取过采样误差指数M； 获取上一组结果寄存器存储的转换数据PN-1PN-2PN-3…P1P0,其中，N为采样位数，PN-1为最高位转换数据，P0表示最低位转换数据； 设置本次转换数据为DN-1DN-2DN-3…D1D0,其中，N为采样位数，DN-1为最高位转换数据，D0表示最低位转换数据； 按从低位到高位的顺序，从所述转换数据PN-1PN-2PN-3…P1P0中查找距离误差指数位数据PM-1最近的比特位数据PL＝0时的比特位参数L； 令逼近位参数K＝L； 设置DN-1DN-2DN-3…DK+1＝PN-1PN-2PN-3…PK+1，DK＝1,DK-1…D1D0＝0； 从DK开始，按从高位到低位的顺序，采用逐次逼近方法，确定DKDK-1DK-2…D1D0； 将DN-1DN-2DN-3…D1D0作为输出的模数转换数据并存储在结果寄存器中。
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