湖北科技学院方明获国家专利权
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龙图腾网获悉湖北科技学院申请的专利基于PTX对称电介质的多波长激光器获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN115693377B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-08-05发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202211374853.2,技术领域涉及:H01S3/16;该发明授权基于PTX对称电介质的多波长激光器是由方明;刘江华;程伟设计研发完成,并于2022-11-04向国家知识产权局提交的专利申请。
本基于PTX对称电介质的多波长激光器在说明书摘要公布了:本发明涉及基于PTX对称电介质的多波长激光器,包括由电介质薄片A和B对接形成的电介质结构,且所述电介质结构满足nar=nbr;G为尺度变换系数,A的厚度为da,B的厚度为db,nar和nbr分别为A和B折射率的实部,nai和nbi分别为A和B折射率的虚部;所述电介质结构支持多波长激光点,多波长激光点对应着透射率和反射率的极大值点,可通过改变入射角的大小,来调控多波长激光器的波长。本发明的PTX对称电介质结构简单,缩短了增益介质的尺度,便于在实践中实现,从而得到较理想的多波长激光器。所述多波长激光器可通过改变入射角的大小来灵活地调控波长。
本发明授权基于PTX对称电介质的多波长激光器在权利要求书中公布了:1.基于PTX对称电介质的多波长激光器,其特征在于,包括由两种折射率不同的电介质薄片A和电介质薄片B对接形成的电介质结构,且所述电介质结构满足nar=nbr;其中G为尺度变换系数,电介质薄片A的厚度为da,电介质薄片B的厚度为db,nar和nbr分别为电介质薄片A折射率的实部和电介质薄片B折射率的实部,nai和nbi分别为电介质薄片A折射率的虚部和电介质薄片B折射率的虚部; 所述电介质结构支持多波长激光点,所述多波长激光点对应着透射率和反射率的极大值点,且所述多波长激光点所对应的波长可调。
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