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上海交通大学沈水云获国家专利权

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龙图腾网获悉上海交通大学申请的专利气体表面吸附量和体相溶解量测试方法及系统获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN115275278B

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-08-05发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202210896027.8,技术领域涉及:H01M8/04313;该发明授权气体表面吸附量和体相溶解量测试方法及系统是由沈水云;李慧媛;章俊良;程晓静;程明;尤佳彬设计研发完成,并于2022-07-27向国家知识产权局提交的专利申请。

气体表面吸附量和体相溶解量测试方法及系统在说明书摘要公布了:本发明提供一种气体表面吸附量和体相溶解量测试方法及系统,涉及燃料电池技术领域,包括:步骤S1:在石英晶体微天平晶片上制备不同厚度的离聚物薄膜;步骤S2:测试晶片振动频率变化,根据Sauerbrey方程,得到薄膜内气体的平衡量变化;步骤S3:根据所测平衡量,得到表面吸附量和单位厚度的体相溶解量。本发明能够通过石英晶体微天平对微小质量的敏感性,得到薄膜在不同气体压力或浓度下的气体平衡量变化;其次,能够通过不同薄膜厚度和气体平衡量的关系,分别得到表面吸附量和体相溶解量,实现界面气体吸附规律的离线测试。

本发明授权气体表面吸附量和体相溶解量测试方法及系统在权利要求书中公布了:1.一种气体表面吸附量和体相溶解量测试方法,其特征在于,包括: 步骤S1:在石英晶体微天平晶片上制备不同厚度的离聚物薄膜; 步骤S2:测试晶片振动频率变化,根据Sauerbrey方程,得到薄膜内气体的平衡量变化; 步骤S3:根据所测不同厚度离聚物薄膜的平衡量,得到表面吸附量和单位厚度的体相溶解量; 所述步骤S2包括:测试晶片振动频率变化,根据公式1Sauerbrey方程,得到薄膜内气体的平衡量变化: 1 其中,为薄膜内气体的平衡量;为气体的摩尔质量;为弹性粘性模量;为晶片的密度;为谐振频率;为晶片的频率变化。

如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术,可联系本专利的申请人或专利权人上海交通大学,其通讯地址为:200240 上海市闵行区东川路800号;或者联系龙图腾网官方客服,联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。

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