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龙图腾网获悉浙江工业大学申请的专利一种用于冷原子干涉型重力仪原子数探测装置及方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN114814966B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-08-05发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202210293287.6，技术领域涉及：G01V7/00；该发明授权一种用于冷原子干涉型重力仪原子数探测装置及方法是由翁堪兴;吴彬;李典蓉;赵英鹏;王飞辰设计研发完成，并于2022-03-23向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种用于冷原子干涉型重力仪原子数探测装置及方法在说明书摘要公布了：本发明一种用于冷原子干涉型重力仪原子数探测装置，包括沿同一轴线依次设置的激光器、保偏光纤、激光准直器、第一12波片、第一偏振立方分束器、第二12波片、第二偏振立方分束器、第三12波片以及三棱镜；激光器发出的原子探测激光经过保偏光纤、激光准直器、第一12波片、第一偏振立方分束器、第二12波片、第二偏振立方分束器后形成第一探测光和第二出射光，第二出射光经过三棱镜形成第二探测光；第一探测光、第二探测光在冷原子干涉型重力仪的真空腔下方形成探测区。本发明还提供一种用于冷原子干涉型重力仪原子数探测装置的探测方法。本发明利用对称结构设计抑制共模噪声，可以有效解决冷原子干涉型重力仪原子数探测效率低和易受本底抖动影响。

本发明授权一种用于冷原子干涉型重力仪原子数探测装置及方法在权利要求书中公布了：1.一种用于冷原子干涉型重力仪原子数探测装置的探测方法，其特征在于：用于冷原子干涉型重力仪原子数探测装置包括沿同一轴线从上至下依次设置的激光器、保偏光纤、激光准直器、第一12波片B1、第一偏振立方分束器PBS1、第二12波片B2、第二偏振立方分束器PBS2、第三12波片B3以及三棱镜； 所述激光器发出的原子探测激光通过保偏光纤与激光准直器连接，激光准直器将原子探测激光准直为垂直向下的第一出射光Y1；第一出射光Y1经过12波片B1后入射至第一偏振立方分束器PBS1的分光面，第一偏振立方分束器PBS1的分光面与第一出射光Y1呈45°设置，第一偏振立方分束器PBS1的分光面对第一出射光Y1完全透射，第一出射光Y1经过第一偏振立方分束器PBS1出射后，经过第二12波片B2到达第二偏振立方分束器PBS2；第二偏振立方分束器PBS2的分光面与第一出射光Y1呈45°设置，第一出射光Y1在偏振立方分束器PBS2的分光面作用下，分为水平向右的第一探测光X1和垂直向下的第二出射光Y2；第二出射光Y2经过第三12波片B3入射至三棱镜，并被三棱镜的反射斜面反射形成水平向右的第二探测光X2； 所述第一探测光X1、第二探测光X2水平向右并经过原子干涉型重力仪的真空腔，真空腔的右侧与第一探测光X1、第二探测光X2相对应的位置设有第一反射镜M1、第二反射镜M2； 所述第一探测光X1经过原子干涉型重力仪的真空腔后入射到第一反射镜M1上，第一反射镜M1将第一探测光X1原路返回形成水平向左的第三探测光X3；水平向左的第三探测光X3经过第一14波片C1后被第二偏振立方分束器PBS2的分光面反射为垂直向上的第三探测光X3；垂直向上的第三探测光X3进入第一偏振立方分束器PBS1，并被第一偏振立方分束器PBS1的反射面反射为水平向左的第一反射光X5；第一反射光X5通过第一聚焦透镜L1汇聚到第一光电探头PD1上，第一光电探头PD1用于检测第一探测光X1和第三探测光X3的光强变化； 所述第二探测光X2经过原子干涉型重力仪的真空腔后入射到第二反射镜M2上，第二反射镜M2将第二探测光X2原路返回形成水平向左的第四探测光X4；水平向左的第四探测光X4经过第二14波片C2被三棱镜反射为垂直向上的第四探测光X4；垂直向上的第四探测光X4进入第二偏振立方分束器PBS2，并被第二偏振立方分束器PBS2的反射面反射为水平向左的第二反射光X6；第二反射光X6通过第二聚焦透镜L2汇聚到第二光电探头PD2上，第二光电探头PD2用于检测第二探测光X2和第四探测光X4的光强变化； 所述第一光电探头PD1与运算放大器的正极输入端相连，第二光电探头PD2与运算放大器的负极输入端相连； 探测方法，包括以下步骤： 步骤1，打开激光器，第一探测光X1、第三探测光X3、第二探测光X2和第四探测光X4在冷原子干涉型重力仪的真空腔内下方形成一个探测区，冷原子团参与完干涉之后分布在两个基态能级上，即冷原子团处于叠加态； 步骤2，处于叠加态的冷原子团在重力的作用下会继续下落，当冷原子团下落至第一探测光X1时，由于第一探测光X1与冷原子团之间的光电效应，冷原子团中的其中一基态的原子会吸收第一探测光X1中的光子，致使第一反射光X5的光强减弱，使用第一光电探头PD1检测第一探测光X1和第三探测光X3的变化； 步骤3，当处于叠加态的冷原子团下落至第二探测光X2时，冷原子团中另一基态的原子会吸收第二探测光X2中的光子，使得第二反射光X6的光强减弱，通过第二光电探头PD2可以检测到第二探测光X2和第四探测光X4的变化； 所述步骤2中，当冷原子团经过第一探测光X1和第三探测光X3时，第二探测光X2和第四探测光X4不会受冷原子团的影响，此刻第二光电探头PD2所探测到的变化是探测光的本底抖动；通过运算放大电路将第一光电探头PD1和第二光电探头PD2两者之间的信号进行差分抑制探测光路中的共模噪声； 所述步骤3中，当冷原子团经过第二探测光X2和第四探测光X4时，第一探测光X1和第三探测光X3不会受冷原子团的影响，此刻第一光电探头PD1所探测到变化是探测光的本底抖动；通过运算放大电路将第一光电探头PD1和第二光电探头PD2两者之间的信号进行差分抑制探测光路中的共模噪声。

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