上海华虹宏力半导体制造有限公司张兴洲获国家专利权
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龙图腾网获悉上海华虹宏力半导体制造有限公司申请的专利检查ROM版图的编码的方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN114444436B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-08-05发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202210059219.3，技术领域涉及：G06F30/398；该发明授权检查ROM版图的编码的方法是由张兴洲设计研发完成，并于2022-01-19向国家知识产权局提交的专利申请。
本检查ROM版图的编码的方法在说明书摘要公布了：本发明公开了一种检查ROM版图的编码的方法，包括：步骤一、确定ROM版图中存储单元的大小；步骤二、选定一行，用一根射线从选定行的一侧拉至另一侧；步骤三、检测射线和选定行上的各所述存储单元的图形的交叉情况；步骤四、根据检测到的交叉情况提取选定行上的二进制码；步骤五、将所提取的选定行的二进制码和编码文件中对应的编码进行比较并根据比较结果判断选定行的编码是否正确。本发明能实现自动检查，从而能提高检查效率和节约时间成本，还能对ROM版图的编码实现全面检查以及能提高检查的准确性。
本发明授权检查ROM版图的编码的方法在权利要求书中公布了：1.一种检查ROM版图的编码的方法，其特征在于，包括如下步骤： 步骤一、确定ROM版图中存储单元的大小，所述ROM版图中，各所述存储单元排列成行列结构； 步骤二、选定一行，用一根射线从选定行的一侧拉至另一侧； 步骤三、检测所述射线和所述选定行上的各所述存储单元的编码图形的交叉情况； 步骤四、根据检测到的交叉情况提取所述选定行上的二进制码； 步骤五、将所提取的所述选定行的二进制码和编码文件中对应的编码进行比较并根据比较结果判断所述选定行的编码是否正确。
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2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。
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