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龙图腾网获悉赛默电子制造有限公司申请的专利用于分离离子的方法和设备获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115176150B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-08-05发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202180013471.4，技术领域涉及：G01N27/622；该发明授权用于分离离子的方法和设备是由P·马里奥特设计研发完成，并于2021-02-10向国家知识产权局提交的专利申请。

本用于分离离子的方法和设备在说明书摘要公布了：提供了一种根据离子样品的离子迁移率分离所述离子样品的方法。所述方法包含：将所述离子样品接收到漂移管中；在所述漂移管内施加第一电场分量，以使所述离子样品沿着所述漂移管内的路径移动，由此所述离子样品沿着所述路径分离；以及在所述漂移管内施加第二电场分量。所述第一电场分量和所述第二电场分量具有组合的电场强度，以改变所述离子样品的至少一部分的所述离子迁移率并增强所述离子样品的至少一部分沿着所述路径的所述分离。所述第二电场分量基本上不引起所述离子样品的速度发生垂直于所述路径的净变化。还提供了一种用于根据离子样品的离子迁移率分离所述离子样品的设备。

本发明授权用于分离离子的方法和设备在权利要求书中公布了：1.一种用于执行离子迁移谱或获得微分迁移率分析仪数据集的方法，所述方法包含： i通过以下步骤根据离子样品的离子迁移率分离所述离子样品： 将所述离子样品接收到漂移管中； 在所述漂移管内施加第一电场分量，以使所述离子样品沿着所述漂移管内的路径移动，由此所述离子样品沿着所述路径分离；以及 在所述漂移管内施加第二电场分量，所述第一电场分量和所述第二电场分量具有组合的电场强度，以改变所述离子样品的至少一部分的所述离子迁移率并基于所述离子样品的至少一部分的到达时间的变化而增加所述离子样品的至少一部分沿着所述路径的所述分离，所述第二电场分量基本上不引起所述离子样品的速度发生垂直于所述路径的净变化； ii使用检测器或检测器布置检测分离的离子样品；以及 多次执行步骤i和ii以获得多个离子迁移谱或微分迁移率分析仪数据集，每个离子迁移谱或微分迁移率分析仪数据集是使用以下获得： 具有不同电场强度的第二电场分量； 针对不同时间比例施加的第二电场分量； 施加在具有不同长度的所述漂移管的部分上的第二电场分量；和或 所述漂移管内气流的不同速率和或方向。

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