株式会社岛津制作所森久祐司获国家专利权
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龙图腾网获悉株式会社岛津制作所申请的专利荧光X射线分析装置获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN115867793B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-08-05发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202080102888.3,技术领域涉及:G01N23/223;该发明授权荧光X射线分析装置是由森久祐司设计研发完成,并于2020-07-14向国家知识产权局提交的专利申请。
本荧光X射线分析装置在说明书摘要公布了:本发明提供一种包括X射线源、检测器以及铁制的试样室并且试样室的内部表面的至少一部分被由源自熔融铝的铝构成的层包覆的荧光X射线分析装置、以及包括X射线源、检测器以及铁制的试样室并且试样室的内部表面的大致整个表面被由源自熔融铝的铝构成的层包覆的荧光X射线分析装置,该X射线源用于对试样照射X射线,该检测器用于检测通过X射线的照射而从试样放出的荧光X射线,该铁制的试样室用于收纳试样。
本发明授权荧光X射线分析装置在权利要求书中公布了:1.一种荧光X射线分析装置,包括: X射线源,其用于对试样照射X射线; 检测器,其用于检测通过所述X射线的照射而从所述试样放出的荧光X射线;以及 铁制的试样室,其用于收纳所述试样, 其中,所述试样室的内部表面的至少一部分被由源自熔融铝的铝构成的层包覆,以及 其中,在所述由源自熔融铝的铝构成的层上还具有包覆层,所述包覆层是用于使铝的荧光X射线衰减的层。
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