启元实验室牛秉慧获国家专利权
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龙图腾网获悉启元实验室申请的专利多波长光学衍射超表面芯片的光场分布测试方法及装置获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN120121580B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-08-08发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510618054.2，技术领域涉及：G01N21/47；该发明授权多波长光学衍射超表面芯片的光场分布测试方法及装置是由牛秉慧;董星辰;孟瑶;侯世俊;范静涛设计研发完成，并于2025-05-14向国家知识产权局提交的专利申请。
本多波长光学衍射超表面芯片的光场分布测试方法及装置在说明书摘要公布了：本申请涉及一种多波长光学衍射超表面芯片的光场分布测试方法及装置，涉及光学测试的技术领域。该光场分布测试方法包括：接收多个波段的激光；处理多个波段的激光，以得到测试所用的光场分布；加载测试所用的光场分布至超表面芯片上，以得到经过超表面芯片后的衍射光场分布；测量衍射光场分布，以得到测量位置所在焦平面的光场信息；调整测量位置，以得到光场信息与测量位置的映射关系。本申请提供的光场分布测试方法具有可以提高超表面芯片测试效率的效果。
本发明授权多波长光学衍射超表面芯片的光场分布测试方法及装置在权利要求书中公布了：1.一种多波长光学衍射超表面芯片的光场分布测试方法，其特征在于，包括： 接收多个波段的激光； 处理所述多个波段的激光，以得到测试所用的光场分布； 加载所述测试所用的光场分布至所述超表面芯片上，以得到经过所述超表面芯片后的衍射光场分布； 测量所述衍射光场分布，以得到测量位置所在焦平面的光场信息； 调整测量位置，以得到所述光场信息与所述测量位置的映射关系； 所述处理所述多个波段的激光，以得到测试所用的光场分布包括： 预处理所述多个波段的激光，以得到初始激光； 二次处理所述初始激光，以得到目标激光； 分束所述目标激光，以得到第一激光和第二激光； 测量所述第一激光，以得到所述第一激光的参数信息； 确认所述参数信息与预设实验值相同的情况下，调制所述第二激光，以得到所述测试所用的光场分布，包括通过空间光调制器对所述第二激光进行调制； 所述调整测量位置包括：通过第一位移台和第二位移台改变所述超表面芯片与测试所用的光场分布的间距，所述第一位移台用于驱动所述超表面芯片沿光轴平移，所述第二位移台用于驱动物镜的所述焦平面沿光轴平移。
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