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龙图腾网获悉成都光创联科技有限公司申请的专利一种光器件点胶校准方法与系统获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN120079561B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-08-08发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510571521.0，技术领域涉及：B05C11/10；该发明授权一种光器件点胶校准方法与系统是由张林波;张强;许远忠设计研发完成，并于2025-05-06向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种光器件点胶校准方法与系统在说明书摘要公布了：本发明公开了一种光器件点胶校准方法与系统，属于光器件粘接技术领域。本发明通过采集待粘接器件的点胶图像，并进行预处理，获得预处理图像；标记所述预处理图像中的胶水点图像，并对胶水点图像进行边缘提取，获得胶水点图像的边缘像素点；基于所述边缘像素点进行拟合圆计算，获得最终拟合圆的圆心坐标及半径；基于最终拟合圆的圆心坐标与预设标准圆的圆心坐标的偏差，校准点胶移动坐标；基于最终拟合圆的半径与预设标准圆的半径的偏差，校准点胶持续时间。本发明从整体上能够有效提高点胶校准的时效性和校准效率。

本发明授权一种光器件点胶校准方法与系统在权利要求书中公布了：1.一种光器件点胶校准方法，其特征在于，所述方法包括以下步骤： S1，采集待粘接器件的点胶图像，并进行预处理，获得预处理图像； S2，标记所述预处理图像中的胶水点图像，并对胶水点图像进行边缘提取，获得胶水点图像的边缘像素点； S3，基于所述边缘像素点进行拟合圆计算，获得最终拟合圆的圆心坐标及半径； 所述S3具体包括： S31，将所述边缘像素点中每两个8邻域内的像素点划分到一个边缘链内，直至所有的边缘像素点都划分完成，去除像素点数量小于20的边缘链，获得多组边缘链； S32，遍历每组边缘链，基于每组边缘链中的边缘像素点进行拟合圆计算，获得最终拟合圆的圆心坐标及半径； 所述S32具体包括： S32-1，遍历所有边缘链，任意选取一组未拟合的边缘链作为目标边缘链； S32-2，设定拟合点数量N的初始值为20； S32-3，遍历所述目标边缘链上的像素点，任意选取一个像素点作为目标像素点； S32-4，再从所述目标边缘链上选取距离所述目标像素点最近的N-1个像素点，与所述目标像素点共同组成拟合点； S32-5，基于所述拟合点，使用拟合计算公式进行拟合圆计算，获得第一拟合圆以及第一拟合圆的圆心坐标和半径； S32-6，根据所述第一拟合圆的圆心坐标和半径，判断第一拟合圆是否是合理；若不合理，则丢弃第一拟合圆；若合理，则保存第一拟合圆，并计算获得第一拟合圆的平均误差； S32-7，所述拟合点数量N递增加一，返回执行所述S32-3，直至遍历目标边缘链上的所有像素点，获得多个第一拟合圆以及对应的平均误差； S32-8，从多个所述第一拟合圆中选取平均误差最小的第一拟合圆作为第二拟合圆；返回执行所述S32-2，直至拟合点数量N大于目标边缘链中的像素点总数，获得多个第二拟合圆以及对应的平均误差； S32-9，将多个所述第二拟合圆中的最小平均误差记为Emin，从多个第二拟合圆中选取平均误差在Emin到1.2Emin之间且拟合点数量N最大的第二拟合圆作为第三拟合圆；返回执行所述S32-1，直至遍历所有边缘链，获得多个第三拟合圆； S32-10，从多个所述第三拟合圆中，选取拟合点数量N最大的第三拟合圆作为最终拟合圆，获得最终拟合圆的圆心坐标以及半径； S4，基于最终拟合圆的圆心坐标与预设标准圆的圆心坐标的偏差，校准点胶移动坐标；基于最终拟合圆的半径与预设标准圆的半径的偏差，校准点胶持续时间。

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