沈阳仪表科学研究院有限公司刘荒获国家专利权
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龙图腾网获悉沈阳仪表科学研究院有限公司申请的专利一种非接触测高装置及划片机获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN120063139B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-08-08发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202510525443.0,技术领域涉及:G01B11/06;该发明授权一种非接触测高装置及划片机是由刘荒;陈扬;唐贵富;吕艳;刘光恒;张春光;韩华超;赵博仲;张志勇;冯银凤;尹宁;李东旭设计研发完成,并于2025-04-25向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种非接触测高装置及划片机在说明书摘要公布了:本发明涉及车间设备技术领域,公开了一种非接触测高装置及划片机,包括:测高发射单元,用于发射高度测量信号;测高接收单元,用于接收高度测量信号;测高发射单元包括:第一密闭箱体、第一遮挡组件和发射组件;测高接收单元包括:第二密闭箱体、第二遮挡组件和接收组件,在装置不工作时,分别利用第一遮挡组件和第二遮挡组件遮挡发射孔和接收孔,使发射组件和接收组件处于密闭环境中,避免发射组件和接收组件被划片过程中产生的水雾和残渣污染,因此,在装置工作时,无需提前对发射组件和接收组件进行清洗和吹干,从而有利于简化非接触测高操作和节约水资源。
本发明授权一种非接触测高装置及划片机在权利要求书中公布了:1.一种非接触测高装置,其特征在于,包括: 测高发射单元,用于发射高度测量信号; 测高接收单元,用于接收所述高度测量信号; 所述测高发射单元包括:第一密闭箱体以及设置在所述第一密闭箱体内部的发射组件和第一遮挡组件;所述第一密闭箱体上开设有发射孔,用于所述高度测量信号通过;所述第一遮挡组件用于高度测量完成后,遮挡所述发射孔; 所述测高接收单元包括:第二密闭箱体以及设置在所述第二密闭箱体内部的接收组件和第二遮挡组件;所述第二密闭箱体上开设有接收孔,用于所述高度测量信号通过;所述第二遮挡组件用于高度测量完成后,遮挡所述接收孔; 所述测高发射单元和所述测高接收单元之间设置有测高区域,用于放置被测物体; 在所述发射孔和所述接收孔露出,进行高度测量时,所述发射孔会向所述第一密闭箱体外喷射气体,所述接收孔会向所述第二密闭箱体外喷射气体,吹散残渣和水雾。
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