南京邮电大学蔡志匡获国家专利权
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龙图腾网获悉南京邮电大学申请的专利用于MIV故障测试的内建自测试电路及MIV故障测试方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119959742B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-08-08发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510452840.X，技术领域涉及：G01R31/28；该发明授权用于MIV故障测试的内建自测试电路及MIV故障测试方法是由蔡志匡;嵇苏宁;雷鸣飞;杨大智;刘小婷;严大鹏;刘璐;郭宇锋设计研发完成，并于2025-04-11向国家知识产权局提交的专利申请。
本用于MIV故障测试的内建自测试电路及MIV故障测试方法在说明书摘要公布了：本发明公开了一种用于MIV故障测试的内建自测试电路及MIV故障测试方法，该电路用于在测试模式下检测单片三维集成电路底层与顶层之间的待测MIV阵列，包括测试控制器、地址解码模块、向量发生器、数据传送装置、故障诊断模块和故障定位模块，其中向量发生器用于产生长度为N的10序列、01序列、0011序列和1100序列的测试向量。本发明能够通过两组测试向量快速切换，检测复杂分布的MIV中的开路故障、固定故障、延迟故障和可能出现的短路故障，并对故障MIV进行精确定位。
本发明授权用于MIV故障测试的内建自测试电路及MIV故障测试方法在权利要求书中公布了：1.一种用于MIV故障测试的内建自测试电路，其特征在于，用于在测试模式下检测单片三维集成电路底层与顶层之间的待测MIV阵列，所述MIV阵列的大小为M×N；该内建自测试电路包括： 地址解码模块，用于通过地址计数值选择一行MIV接入内建自测试电路，将向量发生器中的测试向量移入该行MIV的输入端口；完成该行MIV的故障测试后，地址计数值加1以选择下一行MIV接入内建自测试电路； 向量发生器，用于产生长度为N的10序列、01序列、0011序列和1100序列的测试向量； 数据传送装置，用于将测试向量输入到该行MIV，并将该行MIV的测试响应移入故障诊断模块； 故障诊断模块，用于根据所述测试响应检测该行MIV是否发生故障，并将故障结果存在每个MIV对应的测试数据寄存器中； 故障定位模块，用于根据所述故障结果识别故障MIV的位置。
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