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龙图腾网获悉中国科学院近代物理研究所申请的专利次级束剖面探测器及其使用方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119882008B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-08-08发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510380786.2，技术领域涉及：G01T1/29；该发明授权次级束剖面探测器及其使用方法是由刘通;丁家坚;何珮琳;武军霞;朱光宇;谢宏明;李志学;杨建成;申国栋;姚丽萍设计研发完成，并于2025-03-28向国家知识产权局提交的专利申请。

本次级束剖面探测器及其使用方法在说明书摘要公布了：本发明涉及重离子加速器束流诊断技术领域，特别是涉及一种次级束剖面探测器及其使用方法。次级束剖面探测器包括：探头组件，设置有用于产生二次电子的发射膜和用于提供电场的高压丝网；运动探针，包括外管、套接于所述外管的真空密封法兰以及与所述外管滑动连接的内管；相机，安装于所述真空密封法兰并位于所述外管的下方；其中，所述探头组件安装于所述内管悬伸出所述外管的端头，所述探头组件还包括与所述发射膜平行间隔设置的MCP组件和荧光屏；所述荧光屏与所述相机的镜头倾斜45°并且其中心重合于所述相机镜头的中心轴线。本发明中，探头组件采用微通道板结合荧光屏的读出方式，可以用于测量较大流强范围的束流剖面，兼顾了强弱次级束束流。

本发明授权次级束剖面探测器及其使用方法在权利要求书中公布了：1.一种次级束剖面探测器，其特征在于，包括： 探头组件（100），设置有用于产生二次电子的发射膜（110）和用于提供电场的高压丝网（120）； 运动探针（200），包括外管（210）、套接于所述外管（210）的端头的真空密封法兰（230）以及与所述外管（210）滑动连接的内管（220）； 相机（300），所述相机（300）的镜头嵌设于所述真空密封法兰（230），所述相机（300）和所述外管（210）位于所述真空密封法兰（230）的一侧； 其中，所述探头组件（100）位于所述真空密封法兰（230）的另一侧并且安装于所述内管（220）悬伸出所述外管（210）的端头，所述探头组件（100）还包括与所述发射膜（110）平行间隔设置的MCP组件（130）和荧光屏（140）； 所述探头组件（100）还包括支撑杆（150），所述发射膜（110）和所述高压丝网（120）由上至下顺序安装于所述支撑杆（150）的上端形成场笼，用于向所述MCP组件（130）引导二次电子； 所述MCP组件（130）和所述荧光屏（140）由上至下顺序安装于所述支撑杆（150）的下端； 所述荧光屏（140）与所述相机（300）的镜头倾斜45°并且其中心重合于所述相机（300）镜头的中心轴线。

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