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龙图腾网获悉北京容数科技有限公司申请的专利存储系统性能监控分析方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN120179499B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-08-08发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510244967.2，技术领域涉及：G06F11/30；该发明授权存储系统性能监控分析方法是由陈红刚设计研发完成，并于2025-03-03向国家知识产权局提交的专利申请。

本存储系统性能监控分析方法在说明书摘要公布了：本发明涉及计算机存储技术领域，具体地说，本发明涉及存储系统性能监控分析方法，本发明利用数据采集传感器采集存储系统的磁盘IO读写速率和整体响应时间，通过消息队列协议实时传输至处理层，然后，搭建实时流处理平台，运用滑动窗口算法计算这两个指标的实时统计值，反映磁盘IO和系统响应的实时波动情况，接着，基于皮尔逊相关系数计算磁盘IO读写速率与存储系统整体响应时间的动态相关性，持续监测其变化，判断两者影响程度，最后，运用基于结构因果模型的方法，结合领域知识和因果发现算法，构建存储系统性能指标因果模型，生成有向无环图展现因果关系，提升存储系统运维效率，降低运维成本。

本发明授权存储系统性能监控分析方法在权利要求书中公布了：1.存储系统性能监控分析方法，其特征在于：包括以下步骤： S1、通过数据采集传感器采集存储系统的磁盘IO读写速率和整体响应时间，并通过消息队列协议实时传输至处理层； S2、采用实时流处理框架搭建实时流处理平台，并利用滑动窗口算法计算磁盘IO读写速率和整体响应时间的实时统计值，所述实时统计值用于反映磁盘IO和系统响应的实时波动情况； S3、将实时统计值代入皮尔逊相关系数公式中，计算磁盘IO读写速率与存储系统整体响应时间的动态相关性，并将其作为关键特征，通过持续监测关键特征的变化，判断磁盘IO读写速率的变化对存储系统整体响应时间的影响程度； S4、运用基于结构因果模型的方法构建存储系统性能指标因果模型，基于领域知识确定模型中的变量的因果关系，将磁盘IO读写速率和存储系统整体响应时间作为模型变量，使用基于约束的因果发现算法对历史数据进行分析，确定变量之间的因果结构，并构建出反映存储系统性能指标因果关系的有向无环图； S5、当处理层检测到存储系统整体响应时间超过预设的性能阈值时，依据有向无环图中各指标的因果关系将关键特征输入因果模型，并利用反事实推理方法进行性能瓶颈定位，综合分析确定性能瓶颈的根本原因，S5在利用反事实推理方法进行性能瓶颈定位时，结合贝叶斯网络进行推理，具体步骤如下： 将构建好的有向无环图转换为贝叶斯网络，使用最大似然估计法为有向无环图每个节点确定条件概率分布； 观察存储系统实际状态，当观察到磁盘IO读写速率为某一值时，则将磁盘IO读写速率节点设置为证据节点，并将该值作为其取值，并提出不同的反事实假设，设磁盘IO读写速率改变为另一个值，对于每个反事实假设，改变相应节点的取值； 使用贝叶斯推理算法计算在不同反事实假设下存储系统整体响应时间的概率分布，通过比较不同反事实假设下的概率分布，确定对性能瓶颈影响最大的因素，根据贝叶斯推理的结果，结合实际系统情况，综合分析确定性能瓶颈的根本原因。

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