沐曦科技(成都)有限公司刘凯峰获国家专利权
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龙图腾网获悉沐曦科技(成都)有限公司申请的专利存储器输出接口功能路径测试方法、电子设备和介质获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119811457B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-08-08发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202411886154.5，技术领域涉及：G11C29/08；该发明授权存储器输出接口功能路径测试方法、电子设备和介质是由刘凯峰设计研发完成，并于2024-12-20向国家知识产权局提交的专利申请。
本存储器输出接口功能路径测试方法、电子设备和介质在说明书摘要公布了：本发明涉及芯片测试技术领域，尤其涉一种存储器输出接口功能路径测试方法、电子设备和介质，方法包括：步骤S1、获取与存储器输出接口所连接的功能输出电路中的目标输出接口功能路径，生成目标输出接口功能路径列表；步骤S2、自动测试向量生成工具从所述目标输出接口功能路径列表中选择至少一个目标输出接口功能路径，自动生成测试向量；步骤S3、将所生成的测试向量通过MBIST输入电路输入至存储器中；步骤S4、通过所选择的目标输出接口功能路径在输出接口创建转换，捕获目标输出数据，将所述目标输出数据与预设值进行对比，若一致，则测试通过，否则，测试不通过。本发明提高了存储器输出接口测试性能，提升了芯片运行频率。
本发明授权存储器输出接口功能路径测试方法、电子设备和介质在权利要求书中公布了：1.一种存储器输出接口功能路径测试方法，包括： 步骤S1、获取与存储器输出接口所连接的功能输出电路中的目标输出接口功能路径，生成目标输出接口功能路径列表； 步骤S2、自动测试向量生成工具从所述目标输出接口功能路径列表中选择至少一个目标输出接口功能路径，基于所选择的目标输出接口功能路径自动生成测试向量； 步骤S3、将所生成的测试向量通过与存储器输入接口相连的MBIST输入电路输入至存储器中； 步骤S4、通过所选择的目标输出接口功能路径在输出接口创建转换，捕获目标输出数据，将所述目标输出数据与预设值进行对比，若一致，则测试通过，否则，测试不通过。
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2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。
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