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龙图腾网获悉山东芯通微电子科技有限公司申请的专利集成电路芯片测试系统、方法、设备及介质获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119596101B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-08-08发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202411665976.0，技术领域涉及：G01R31/28；该发明授权集成电路芯片测试系统、方法、设备及介质是由邢广军设计研发完成，并于2024-11-20向国家知识产权局提交的专利申请。

本集成电路芯片测试系统、方法、设备及介质在说明书摘要公布了：本申请公开了一种集成电路芯片测试系统、方法、设备及介质，主要涉及集成电路芯片技术领域，用以解决现有的‌集成电路芯片的故障检测涉及的方案‌：仅关注电流等单一环节的测试、仅通过初步测试确定合格，可能无法发现芯片在运行中的潜在风险的问题。包括：集合获得模块，用于对数据集进行聚类处理，获得若干个聚类集合；概率确定模块，用于确定当前聚类集合对应的实际故障概率；数据添加模块，用于基于待测集成电路芯片的芯片型号和具体的实测环节，确定对应的数据集；将待测集成电路芯片的实测数据添加至数据集中；异常检测模块，用于对当前数据集进行聚类处理，进而获取对应的实际故障概率。

本发明授权集成电路芯片测试系统、方法、设备及介质在权利要求书中公布了：1.一种集成电路芯片测试系统，其特征在于，所述系统包括： 样本获取模块，用于获取集成电路芯片的芯片型号、集成电路芯片的实测环节、各个实测环节对应的实测数据，作为样本数据； 集合获得模块，用于将同属于一个芯片型号、相同实测环节的样本数据作为一个数据集，进而对数据集进行聚类处理，获得若干个聚类集合； 反馈获得模块，用于获取样本数据对应的实际故障反馈结果；其中，实际故障反馈结果分为：存在故障和无故障； 概率确定模块，用于基于聚类集合中的样本数据的总量和存在故障的样本数据的分量，确定当前聚类集合对应的实际故障概率； 数据添加模块，用于获取待测集成电路芯片的芯片型号、具体的实测环节和各个实测环节对应的实测数据；基于待测集成电路芯片的芯片型号和具体的实测环节，确定对应的数据集；将待测集成电路芯片的实测数据添加至数据集中； 异常检测模块，用于对当前数据集进行聚类处理，确定当前集成电路芯片的实测数据对应的聚类集合；进而获取对应的实际故障概率；当实际故障概率大于预设概率阈值时，生成异常告警至预设维护终端； 数据集校正模块，用于在生成异常告警至预设维护终端后，通过预设维护终端获取数据集中新增待测集成电路芯片数据的实际故障反馈结果。

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