长鑫存储技术有限公司史丹丹获国家专利权
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龙图腾网获悉长鑫存储技术有限公司申请的专利电路仿真验证方法、验证装置、电子设备和可读存储介质获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN116362176B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-08-08发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202310466361.4，技术领域涉及：G06F30/3312；该发明授权电路仿真验证方法、验证装置、电子设备和可读存储介质是由史丹丹设计研发完成，并于2023-04-26向国家知识产权局提交的专利申请。
本电路仿真验证方法、验证装置、电子设备和可读存储介质在说明书摘要公布了：本公开提供了一种电路仿真验证方法、验证装置、电子设备和可读存储介质，涉及存储器技术领域。其中，电路仿真验证方法包括：获取待验证芯片电路的仿真激励信息，仿真激励信息包括待验证芯片的输入激励、待测输出信号和仿真期望结果；基于输入激励对待验证芯片电路执行时序仿真，得到待验证芯片的时序仿真结果；基于多组时序采样时刻对时序仿真结果进行采样，得到待测输出信号的多组仿真采样结果；将仿真期望结果和多组仿真采样结果分别进行比较，生成多个验证结果记录文件；基于多个验证结果记录文件对待验证芯片电路进行优化调整。通过本公开的技术方案，使得到的验证结果具有更高的验证精度。
本发明授权电路仿真验证方法、验证装置、电子设备和可读存储介质在权利要求书中公布了：1.一种电路仿真验证方法，其特征在于，包括： 获取待验证芯片电路的仿真激励信息，所述仿真激励信息包括待验证芯片的输入激励、待测输出信号和仿真期望结果； 基于所述输入激励对所述待验证芯片电路执行时序仿真，得到所述待验证芯片的时序仿真结果； 基于多组采样时刻序列对所述时序仿真结果进行采样，得到所述待测输出信号的多组仿真采样结果，其中每组所述采样时刻序列包括多个采样时刻； 将所述仿真期望结果和所述多组仿真采样结果分别进行比较，生成多个验证结果记录文件； 基于所述多个验证结果记录文件对所述待验证芯片电路进行优化调整。
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2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。
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