江苏科技大学;江阴捷芯电子科技有限公司李明泽获国家专利权
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龙图腾网获悉江苏科技大学;江阴捷芯电子科技有限公司申请的专利一种用于集成电路测试的全合成精密测量单元获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN116298817B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-08-08发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202310373088.0，技术领域涉及：G01R31/28；该发明授权一种用于集成电路测试的全合成精密测量单元是由李明泽;马国军;张奕凡;张龙;仲重光;姜煊;程理泽;朱勤华;王璐设计研发完成，并于2023-04-10向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种用于集成电路测试的全合成精密测量单元在说明书摘要公布了：本发明公开了本发明为一种用于集成电路测试的全合成精密测量单元，该精密测量单元包括全数字DAC模块、全合成ADC模块以及增益测量模块组成的精密测量单元。全数字DAC模块由DDR‑DDPM和LPF合成，用于为DUT提供激励。全合成ADC由全数字子DAC、电压比较器和SAR逻辑合成，用于DUT数据读取。增益测量模块由模拟元件构成，提供增益以及测试向量间的转换功能。本发明可解决进口PMU芯片成本过高及减少电容寄生效应提高精度等优点。
本发明授权一种用于集成电路测试的全合成精密测量单元在权利要求书中公布了：1.一种用于集成电路测试的全合成精密测量单元，其特征在于，包括：全数字DAC模块，全合成ADC模块，增益测量模块； 所述全数字DAC模块采用FPGA与低通滤波器LPF合成全数字DAC模块，FPGA向低通滤波器LPF输入不同占空比的脉冲，经由低通滤波器LPF滤波后实现低纹波的直流电压输出，实现DAC的功能，为增益测量模块提供激励； 所述全合成ADC模块，由全数字子DAC、电压比较器和SAR逻辑合成，用于采集DUT的测量信息，实现模拟信息到数字信息的转换； 增益测量模块，由模拟元件构成，包含多个增益放大器，可实现电压激励转换为电流激励以及钳位保护功能，通过FVMI和FIMV方式对DUT进行测量。
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