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龙图腾网获悉电子科技大学申请的专利基于定标天线相位误差分析的平面近场测量距离校准方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119375801B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-08-08发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202310284844.2，技术领域涉及：G01R35/00；该发明授权基于定标天线相位误差分析的平面近场测量距离校准方法是由赵华鹏;刘显杰;胡俊设计研发完成，并于2023-03-22向国家知识产权局提交的专利申请。

本基于定标天线相位误差分析的平面近场测量距离校准方法在说明书摘要公布了：本发明公开了基于定标天线相位误差分析的平面近场测量距离校准方法，属于天线近场测量领域。本发明先利用定标天线与探头天线进行平面近场测量；再利用被测天线与探头天线进行平面近场测量；然后仿真定标天线在采样面存在不同偏移时的数据；利用定标天线的仿真和实测数据对采样平面的真实位置进行校正，二者最小相位误差所对应的仿真平面即为校正后的采样面真实位置，达到对被测天线采样平面真实位置进行校正的目的。本发明校正精度高，且成本较低，适用于各种中小型天线的平面近场测量的校正。

本发明授权基于定标天线相位误差分析的平面近场测量距离校准方法在权利要求书中公布了：1.基于定标天线相位误差分析的平面近场测量距离校准方法，其特征在于，包括以下步骤： 步骤1、根据被测天线的平面近场测量方案，设定被测天线与探头天线之间的距离为L1，近场采样面上的采样点的集合为P＝{Pn|n＝1,2,...,N}，其中Pnxn,yn,zn处采样点的电场设为Exn,yn,zn，采样面上的点数总共为N，n表示第n个采样点，xn,yn,zn表示第n个采样点在笛卡尔坐标系下的位置； 步骤2、采用定标喇叭天线进行平面近场测量，设定定标喇叭天线与探头天线之间的真实距离为L2，获得真实距离L2下的定标天线平面近场E1xn,yn,zn；由于测量误差，设定距离L1与真实距离L2存在误差，因此在测量时，采样点Pn的真实位置为Pnxn+Δx，yn+Δy，zn+Δz，对应该采样点处的平面近场为Exn+Δx，yn+Δy，zn+Δz，式中Δx、Δy和Δz分别为实际测量过程中，Pn点的真实位置与设定位置在笛卡尔坐标系下x、y、z轴上的偏差； 步骤3、将被测天线放置于定标喇叭天线所在位置，确保被测天线口径面中心和定标喇叭天线口径面中心重合；由于步骤2和步骤3中采样面大小、采样间隔均一致，此时采样点Pn处电场的真实位置与步骤2中一致为Pnxn+Δx，yn+Δy，zn+Δz，被测天线对应采样点Pn的平面近场为E2xn,yn,zn； 步骤4、对定标喇叭天线进行仿真，设定SΔx＝{Δx1,Δx2,...ΔxN1}，SΔy＝{Δy1,Δy2,...ΔyN2}，SΔz＝{Δz1,Δz2,...ΔzN3}分别为笛卡尔坐标系下x、y、z轴上偏差的集合，仿真得到不同误差下的平面近场式中1≤i≤N1,1≤j≤N2,1≤k≤N3； 步骤5、通过遍历Δx、Δy和Δz比较定标喇叭天线实际测量的平面近场E1xn,yn,zn与仿真平面近场的平均相位误差： 当平均相位误差最小时所对应的采样点xn+Δxi，yn+Δyj，zn+Δzk为采样面的真实位置，被测天线的平面近场E2xn,yn,zn对应的真实位置被校正为xn+Δxi，yn+Δyj，zn+Δzk。

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