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龙图腾网获悉华南理工大学申请的专利一种用于TEM的纳米颗粒样品寻回方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN116203048B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-08-08发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202310198680.1，技术领域涉及：G01N23/02；该发明授权一种用于TEM的纳米颗粒样品寻回方法是由刘金超;梁振兴设计研发完成，并于2023-03-01向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种用于TEM的纳米颗粒样品寻回方法在说明书摘要公布了：本发明涉及一种用于TEM的纳米颗粒样品寻回方法，利用微米级标记物定位的纳米级目标样品的寻回方法。本发明方法通用于各种品牌、型号的TEM仪器以及坐标支持膜载网，无需设计特殊图案，仅需测试前在已经装有目标样品的载网上添加惰性的标记物即可实现纳米级目标的定位与寻回。对于各种品牌、型号的坐标载网和TEM设备具有通用性；寻回目标位置基于坐标载网与微米级标记物，寻回精度高，效率高，成本低，操作简单，实用性强，选用的坐标载网的目数与市面上大多数商用透射电镜最大的视野范围相匹配，即坐标载网的周期网格小于TEM最大视野，在TEM视野中至少能显示一个完整周期，因此目标所在的大网格可以被准确锁定。

本发明授权一种用于TEM的纳米颗粒样品寻回方法在权利要求书中公布了：1.一种用于TEM的纳米颗粒样品寻回方法，其特征在于，包括以下步骤： 步骤一：加入惰性标记物 将纳米颗粒目标样品滴加在载网上，将惰性标记物分散在分散剂中，滴加在载网上，将载网放置在烘箱或真空烘箱中，挥发掉分散剂； 步骤二：首次观察 将载有惰性标记物与目标样品的载网装在透射电镜样品杆上后，装载入透射电镜，待真空抽好后，进行观察； 步骤三：定位 找到目标样品，在透射电镜lowmag模式下，确认目标样品所在载网的坐标网格，并拍照记录，记为图片A； 将惰性标记物与目标样品上需要标记的位置置于同一视野中，测量目标位置的特征点到惰性标记物的距离，标记在图片中，并记录为图片C； 在透射电镜lowmag模式下，记录惰性标记物与坐标载网的网格线之间的距离，将坐标网格的至少一条边与惰性标记物置于同一视野中，测量惰性标记物的两个端点到距离其最近的坐标网格线的距离，并在图片中标出，并记录为图片B； 步骤四：寻回 将上述载网装入TEM样品杆中，先在lowmag模式下找到目标样品所在的坐标网格，调节Zfocus，使载网在wobble模式下稳定不晃动； 将步骤三中所拍摄的图片A旋转α角度，使其与当下视野中的坐标网格方向重合，将步骤三所图片B进行与图片A同步的旋转α角度，根据步骤三图片B中所测量的惰性标记物与坐标载网的网格线之间的位置关系找到惰性标记物； 将步骤三中记录的惰性标记物与目标样品之间的位置关系的图片C与图片A同步的旋转α角度，并根据步骤三图片B中惰性标记物与目标样品之间的位置关系及距离寻回目标样品； 所述惰性标记物为长度为微米级、宽度或直径为纳米级的棒状物； 所述惰性标记物为BaTi2O4、ZnO、TiO2、Au、Pt或Pd材料制成的微纳米棒； 所述载网为坐标支持膜载网，载网目数为200-250目。

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