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龙图腾网获悉中国科学技术大学申请的专利一种基于涡旋光干涉的微小折射率变化率测量方法及系统获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN116148219B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-08-08发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202310118345.6，技术领域涉及：G01N21/45；该发明授权一种基于涡旋光干涉的微小折射率变化率测量方法及系统是由吴水梅;王安廷;马凤华;石宝奇设计研发完成，并于2023-02-15向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种基于涡旋光干涉的微小折射率变化率测量方法及系统在说明书摘要公布了：本发明公开了一种基于涡旋光干涉的微小折射率变化率测量方法及系统。本发明利用拓扑荷符号相反的两束涡旋光分别作为参考光束和测量光束，测量光束穿过折射率缓慢变化的待测样品后与参考光汇成一束，形成旋转的花瓣状干涉图案，该花瓣状图案的旋转角速度与待测样品的折射率变化率成正比。用CCD以一定的采样频率采集记录干涉图案，利用归一化互相关方法处理CCD采集的图像，并引入时频分析方法，可以得到干涉图案的旋转速度，进而得到待测样品的折射率变化率。本发明避免了测量干涉图样旋转角所引入的误差，能够测量非匀速变化的折射率的变化率，并且能够辨别折射率变化的方向。

本发明授权一种基于涡旋光干涉的微小折射率变化率测量方法及系统在权利要求书中公布了：1.一种基于涡旋光干涉的微小折射率变化率测量方法，其特征在于，所述方法包括如下步骤： 步骤1：利用螺旋相位片将激光光源发射的基模高斯光束转化为涡旋光束，分束镜将所述涡旋光束分为两束，其中一束作为测量光束，另一束作为参考光束；所述测量光束穿过待测样品，待测样品的折射率缓慢变化； 步骤2：利用反射镜和分束镜，使步骤1所述参考光束和测量光束在达到CCD前所经历的反射次数的奇偶性相反，从而使所述参考光束和测量光束的拓扑荷符号相反； 步骤3：将步骤2中的拓扑荷符号相反的参考光束和测量光束汇成一路，发生同轴干涉，形成旋转的花瓣状干涉图案； 步骤4：CCD以设定的采样频率采集所述花瓣状干涉图案； 步骤5：以t=0时刻采集的干涉图案作为参考图像，采用归一化互相关方法计算CCD采集的每一张图像与参考图像之间的相关系数，得到相关系数随时间变化的关系曲线； 步骤6：采用时频分析方法计算所述相关系数时间变化曲线的时间-频率分布谱，得到不同时刻相关系数的变化频率； 步骤7：根据不同时刻相关系数的变化频率与步骤3所述干涉图案的旋转角速度之间的关系，计算得到干涉图案的旋转角速度； 步骤8：根据所述干涉图案的旋转角速度与待测样品的折射率变化率之间的关系，计算得到折射率变化率； 步骤9：根据测量过程中干涉图案的旋转方向，判断待测样品折射率变化的方向。

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