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龙图腾网获悉江西兆驰半导体有限公司申请的专利一种垂直结构LED晶粒分选后质检方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115910860B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-08-08发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202211404061.5，技术领域涉及：H01L21/67；该发明授权一种垂直结构LED晶粒分选后质检方法是由朱兵兵;王晓明;赵晓明;董国庆;文国昇;金从龙设计研发完成，并于2022-11-10向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种垂直结构LED晶粒分选后质检方法在说明书摘要公布了：本发明提供了一种垂直结构LED晶粒分选后质检方法，通过将晶圆的原始标准数据与质检BIN晶粒数据进行对比分析，分析项目：电压、波长、亮度，按标准数据中电压、亮度、波长数据的标准范围进行对比，以此分类作为成品入库，利用导电膜收集晶圆中晶粒，同时抛出收集晶圆中晶粒原始数据，点测机回测导电膜收集晶圆中晶粒比对原始标准数据，得到良率管控，提前防止切割产出不良晶粒流入客户端，有效管控产品NG异常率，有效卡控LED晶粒产品质量，解决产品批次异常、分类混乱的问题，保证LED晶粒产品的质量及可靠性。

本发明授权一种垂直结构LED晶粒分选后质检方法在权利要求书中公布了：1.一种垂直结构LED晶粒分选后质检方法，其特征在于：包括以下步骤： S1：利用点测机对晶圆进行全测，得到所述晶圆中每颗晶粒的测试数据，并将每颗晶粒的所述测试数据及对应的坐标上传计算机系统； S2：利用切割机对所述晶圆进行切割，以得到多颗离散的晶粒； S3：利用分选机根据晶粒坐标，电压、波长、亮度进行分选，坐标取晶圆直径23位置取样，生产批次有P、Q、Y三类，同类特征划分为同类批次，以此分选出N个晶圆，计算机系统根据P、Q、Y三类批次按每批选取若干个晶圆，分选机在每个被选取晶圆的不同位置分选若干颗晶粒到导电膜，根据晶粒的测试数据及坐标进行分类，使晶粒在所述导电膜上呈相对坐标排列整齐，将所述导电膜收集的晶粒送到点测机的质检BIN进行晶粒测试； S4：根据所述导电膜收集多个晶粒位于晶圆处的坐标，得到步骤S1中与坐标对应的测试数据，将其定义为标准数据，将标准数据上传计算机系统； S5：用点测机的质检BIN进行晶粒全测，具体晶粒包含同类特征划分为同类批次晶圆直径23位置的全部晶粒，测试条件按步骤S1相同测试条件进行测试，得到质检BIN晶粒数据； S6：将所述质检BIN晶粒数据上传计算机系统； S7：将所述标准数据与所述质检BIN晶粒数据进行对比分析，判断所述质检BIN晶粒数据是否处于所述标准数据的标准范围内；若是，则根据步骤S3同类特征划分为P、Q、Y三类的同类批次类型，将所述质检BIN晶粒数据符合标准范围、且与步骤S5中测试晶粒属于同批次类型的未测试晶粒作为成品入库，按晶粒数据良率达成率、形态完整度及表面外观进行优次分类，其中，优品列为a档，次品列为b档。

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