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龙图腾网获悉北方工业大学申请的专利一种楔形双折射器件相位延迟量测量光路及测量方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115541203B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-08-08发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202211322616.1，技术领域涉及：G01M11/02；该发明授权一种楔形双折射器件相位延迟量测量光路及测量方法是由陈强华;关裕;邵多;刘福铭;吕洪波;孙启国;司丽娜;何广平设计研发完成，并于2022-10-27向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种楔形双折射器件相位延迟量测量光路及测量方法在说明书摘要公布了：本发明提供了一种楔形双折射器件相位延迟量测量光路及测量方法，其光路结构包括分光镜、半波片、第一聚焦透镜、反射镜，还包括缩束单元、四分之一波片及第二聚焦透镜；入射光经所述分光镜后被分为透射光和反射光，沿此反射光前进方向依次设有第一偏振片、第一光电探测器，沿此反射光前进方向的反向依次设有第二偏振片、第二光电探测器；沿透射光前进方向依次设有所述缩束单元、半波片、待测双折射器件、第一聚焦透镜、四分之一波片、第二聚焦透镜、反射镜。本发明可以测量楔形结构以及具有变化楔角斜面、曲面或其他出射表面不平行于入射表面结构的双折射器件的相位延迟量，且光路结构简单，测量方法简单方便。

本发明授权一种楔形双折射器件相位延迟量测量光路及测量方法在权利要求书中公布了：1.一种楔形双折射器件相位延迟量的测量方法，利用楔形双折射器件相位延迟量测量光路进行测量，所述楔形双折射器件相位延迟量测量光路包括分光镜、半波片、第一聚焦透镜、反射镜，还包括缩束单元、四分之一波片及第二聚焦透镜；入射光经所述分光镜后被分为透射光和反射光，沿此反射光前进方向依次设有第一偏振片、第一光电探测器，沿此反射光前进方向的反向依次设有第二偏振片、第二光电探测器；沿透射光前进方向依次设有所述缩束单元、半波片、待测双折射器件、第一聚焦透镜、四分之一波片、第二聚焦透镜、反射镜；其特征在于，所述测量方法包括如下步骤： S1.将待测双折射器件放置在所述半波片与第一聚焦透镜之间； S2.将一束包含了两个具有一定频率差且偏振方向互相垂直的P、S双频线偏振分量的光束作为入射光，经过分光镜后被分为透射和反射的两部分； 反射光经过第一偏振片后被第一光电探测器接收形成参考信号； 透射光依次经过所述缩束单元、半波片、待测双折射器件、第一聚焦透镜、四分之一波片、第二聚焦透镜及反射镜后原路折返，后被第二光电探测器接收形成测量信号； 旋转所述半波片，获取测量信号与参考信号间的相位差变化的最大值及最小值，并由此计算得到待测双折射器件在光束经过位置的相位延迟量； 所述参考信号的表达式为： 表达式一I1＝I01cos[2πΔft+Φp01-Φs01] 其中，I1、I01分别为参考信号的光强与光强最大值，Φp01、Φs01分别为参考信号光路中P、S分量的初始相位，t为时间，Δf为P偏振光与S偏振光间的频率差； 所述测量信号的表达式为： 表达式二I2＝I02cos[2πΔft+Φp02-Φs02+ΔΦ] 其中，I2、I02分别为测量信号的光强与光强最大值，Φp02、Φs02分别为测量光路中P、S分量的初始相位，ΔΦ为半波片旋转时测量信号相对于参考信号的相位差变化； 设入射P偏振光分量的琼斯向量为所述透射光返回至第二偏振片后P偏振光分量的琼斯向量变为： 表达式三 设入射S偏振分量的琼斯向量为所述透射光返回至第二偏振片后S偏振光分量的琼斯向量变为： 表达式四 其中： P1＝|sinτsin22ψ-θ|； δ＝atantanτcos2θ-2ψ； ψ为半波片快轴与平行纸面方向的夹角，τ和θ分别为待测双折射器件的相位延迟量和快轴方位角； 根据表达式三和表达式四，获得测量信号中P、S分量的相位差为： 表达式五Φ＝2atan{tanτcos[2θ-2ψ]} 该相位差Φ的变化ΔΦ即为表达式二中的相位差变化，旋转半波片获取该相位差变化ΔΦ的最大最小值，根据表达式五计算得到待测双折射器件的相位延迟量和快轴方位角。

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