武汉优光科技有限责任公司陈松获国家专利权
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龙图腾网获悉武汉优光科技有限责任公司申请的专利一种测试波片相位延迟的方法及装置获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115493814B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-08-08发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202210982389.9，技术领域涉及：G01M11/02；该发明授权一种测试波片相位延迟的方法及装置是由陈松;贺鹏;肖志全;孟聪禄设计研发完成，并于2022-08-16向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种测试波片相位延迟的方法及装置在说明书摘要公布了：本发明公开一种测试波片相位延迟的方法及装置，方法包括：步骤1，沿光路依次设置光源、起偏器、待测波片、检偏器和光功率计，且待测波片光轴与X轴成45°角，检偏器透光轴与X轴平行；步骤2，打开光源，记录第一光功率P1；步骤3，将检偏器转动90°，记录第二光功率P2；步骤4，根据待测波片的琼斯矩阵，计算待测波片的相位延迟。本发明在测试过程中，仅需转动一次检偏器，对起偏器、待测波片均无需操作，避免了多个器件多次操作可能导致的操作误差积累，进而导致测试结果误差较大的问题，保证了测试精度，同时由于测试流程的简化，极大提高了测试效率。
本发明授权一种测试波片相位延迟的方法及装置在权利要求书中公布了：1.一种测试波片相位延迟的方法，其特征在于，包括： 步骤1，沿光路依次设置光源、起偏器、待测波片、检偏器和光功率计，且待测波片光轴与X轴成45°角，检偏器透光轴与X轴平行； 步骤2，打开光源，记录第一光功率P1； 步骤3，将检偏器转动90°，记录第二光功率P2； 步骤4，根据待测波片的琼斯矩阵，计算待测波片的相位延迟，具体包括：设水平偏振光振幅为，待测波片光轴与X轴成角，经波片后透射光复振幅的琼斯矢量为，利用待测波片的琼斯矩阵做如下运算：，；带入45°夹角，计算得：，；波片透射光复振幅在X、Y轴上的分量之比为，光强之比为复振幅比值的平方，光功率之比等于光强度之比，即，待测波片的相位延迟。
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2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。
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