Document
拖动滑块完成拼图
个人中心

预订订单
服务订单
发布专利 发布成果 人才入驻 发布商标 发布需求

在线咨询

联系我们

龙图腾公众号
首页 专利交易 IP管家助手 科技果 科技人才 科技服务 国际服务 商标交易 会员权益 需求市场 关于龙图腾
 /  免费注册
到顶部 到底部
清空 搜索
当前位置 : 首页 > 专利喜报 > 中国科学院上海技术物理研究所何志平获国家专利权

中国科学院上海技术物理研究所何志平获国家专利权

买专利卖专利找龙图腾,真高效! 查专利查商标用IPTOP,全免费!专利年费监控用IP管家,真方便!

龙图腾网获悉中国科学院上海技术物理研究所申请的专利一种优化激光采样波长的傅里叶光谱仪装置获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN115265780B

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-08-08发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202210811550.6,技术领域涉及:G01J3/28;该发明授权一种优化激光采样波长的傅里叶光谱仪装置是由何志平;栾一飞;杨秋杰;王翔;李飞飞设计研发完成,并于2022-07-11向国家知识产权局提交的专利申请。

一种优化激光采样波长的傅里叶光谱仪装置在说明书摘要公布了:本发明公开了一种优化激光采样波长的傅里叶光谱仪装置,该装置包括依据光路传输依次排列放置的超稳激光、小视场观测望远镜、干涉模块、激光探测器、探测器模块,控制采集处理计算机。它包含多种技术,如电机精准控制技术、超稳激光自对准技术,高灵敏度高精度激光信号采样技术,干涉臂平面反射镜的平行平面镜设计技术。该装置使激光干涉光路中折返多次从而获得更多次采样光程,从而增加激光器的可选波长范围,从而达到提高信噪比、优化激光采样波长的目的。

本发明授权一种优化激光采样波长的傅里叶光谱仪装置在权利要求书中公布了:1.一种优化激光采样波长的傅里叶光谱仪装置,其特征在于: 所述的傅里叶光谱仪装置包括超稳激光1、小视场观测望远镜2、干涉模块3、激光探测器4、探测器模块5,控制采集处理计算机6; 所述小视场观测望远镜2由平面反射镜7、凹面反射镜8、电控可调光阑9、离轴抛物面反射镜10构成且共轴;平面反射镜7位于凹面反射镜8的前方,电控可调光阑9位于凹面反射镜8的焦点,同时也位于离轴抛物面反射镜10的焦点;电控可调光阑9的开孔大小依据系统的光谱分辨率由控制采集处理计算机6智能调控,电控可调光阑9的开孔直径φ与系统的光谱分辨率ν、工作波段的最大波数σmax,以及离轴抛物面反射镜10的焦距f′之间的约束关系满足: 所述傅里叶光谱仪装置的最大光谱分辨率νmax,与直线电机最大行程Lmax,分束器11与激光1入射光的夹角β,之间的关系满足: 所述分束器11包含4个不同的功能表面区域,半反半透表面25,增透表面26,增透表面27,反射表面28;分束器11的半径R与反射镜12的初始位置L1,直线电机最大行程Lmax,平面反射镜14的长度l1,分束器11与激光1入射光的夹角β,激光1入射光与平面反射镜14的夹角α之间的约束关系满足: R≥L1+Lmaxsinβ+l1sinα 半反半透表面25的长度l2与反射镜12的初始位置L1,分束器11与激光1入射光的夹角β的约束关系满足: l2=L1sinβ; 所述干涉模块3由分束器11、固定反射镜13、直线电机16和固定于直线电机上的反射镜12组成;反射镜12与固定反射镜13完全相同,且位于零位的反射镜12与固定反射镜13的位置关于分束器11的半反半透面25对称;所述固定反射镜13包含平面反射镜14和小平面反射镜15,小平面反射镜15与平面反射镜14的末端构成平行平板内反射体;小平面反射镜15的长度l与采样光程差的倍数n,平行平板的间距d,激光1入射光与平面反射镜14的夹角α之间的约束关系满足: 使用时,激光发出的光经分束器11的半反半透区域25后被分成两束,其中一束在半反半透区域25的前表面反射进入位于直线电机16上的反射镜12,经平行平板的N次折反射后,垂直入射分束器11,经分束器11的反射表面28反射后原路返回再次入射分束器11,产生反射光束A1和透射光束A2;另一束透过半反半透区域25和增透表面26进入固定反射镜13,经平行平板的N次折反射后,垂直入射分束器11,经分束器11的反射表面28反射后原路返回再次入射分束器11,产生反射光束B1和透射光束B2;透射光束A2和反射光束B1产生激光干涉信号36; 对于测量干涉模块,位于无限远处的待测目标发射的平行光通过主镜凹面反射镜8后经过次镜平面反射镜7进入焦点位置,经电控可调光阑9的空间滤波,被共焦放置的轴抛物面反射镜10准直后,进入分束器11的半反半透区域25被分成两束,其中一束在半反半透区域25的前表面反射进入位于直线电机16上的反射镜12,经反射镜12的反射垂直入射分束器11,经分束器11的反射表面28反射后原路返回再次入射分束器11,产生反射光束C1和透射光束C2;另一束透过半反半透区域25和增透表面26进入固定反射镜13,经固定反射镜13反射,垂直入射分束器11,经分束器11的反射表面28反射后原路返回再次入射分束器11,产生反射光束D1和透射光束D2;透射光束C2和反射光束D1产生干涉信号38;探测器模块5依据激光干涉模块产生的采样脉冲信号对测量干涉模块产生的干涉信号进行采样39,得到一组满足奈奎斯特采样定理的离散信号40,经过控制采集处理计算机7的数据处理获得待测目标的光谱信息。

如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术,可联系本专利的申请人或专利权人中国科学院上海技术物理研究所,其通讯地址为:200083 上海市虹口区玉田路500号;或者联系龙图腾网官方客服,联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。

免责声明
1、本报告根据公开、合法渠道获得相关数据和信息,力求客观、公正,但并不保证数据的最终完整性和准确性。
2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解,仅供参考使用,不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。