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龙图腾网获悉中国电子科技集团公司第十五研究所;中电科(北京)信息测评认证有限公司申请的专利一种用于测试对称密码组件安全性的系统及方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115186253B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-08-08发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202210785240.1，技术领域涉及：G06F21/46；该发明授权一种用于测试对称密码组件安全性的系统及方法是由李艳俊;刘健;王克;张伟国设计研发完成，并于2022-06-29向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种用于测试对称密码组件安全性的系统及方法在说明书摘要公布了：本发明公开了一种用于测试对称密码组件安全性的系统及方法，所述系统包括：S盒测试模块，用于测试所述对称密码组件S盒的密码性能，包括差分均匀度子模块、非线性度子模块、不动点个数子模块、代数次数与项数子模块、代数免疫度子模块、雪崩子模块、扩散子模块；P置换测试模块用于测试所述对称密码组件P置换的扩散性能，所述P置换测试模块包括演示子模块、二元域矩阵测试子模块、GF2n矩阵测试子模块；最小扩散轮数测试模块，所述最小扩散轮数测试模块用于测试所述对称密码组件广义Feistel结构的最小扩散轮数和对应拉线。该系统创新了S盒、P置换、最小扩散轮数以及拉线的相关指标的计算方式，提高了测试效率及测试准确率。

本发明授权一种用于测试对称密码组件安全性的系统及方法在权利要求书中公布了：1.一种用于测试对称密码组件安全性的系统，其特征在于，包括： S盒测试模块，用于测试对称密码组件S盒的密码性能，S盒测试模块包括差分均匀度子模块、非线性度子模块、不动点个数子模块、代数次数与项数子模块、代数免疫度子模块、雪崩子模块、扩散子模块； P置换测试模块，用于测试对称密码组件P置换的扩散性能，P置换测试模块包括演示子模块、二元域矩阵测试子模块、GF2n矩阵测试子模块； 最小扩散轮数测试模块，用于测试对称密码组件广义Feistel结构的最小扩散轮数和对应拉线； 所述最小扩散轮数测试模块用于测试所述对称密码组件广义Feistel结构的最小扩散轮数和对应拉线；所述最小扩散轮数测试模块接收第十一输入数据，所述第十一输入数据为分块数q，q为偶数； 所述对称密码组件广义Feistel结构的最小扩散轮数和对应拉线的计算方法为： 步骤S31：对于输入q，设r＝q，令排列置换δ为δii； 步骤S32：若已经得到q个备选扩散轮数Rejj，进入步骤S35；否则，令Y＝[Y0,Y1,…Yq-1]＝ejj，Y0,Y1,…Yq-1为Y的q个分量，ejj为第jj个分量为1其余分量为0的q维向量； 步骤S33：将输入Y＝[Y0,Y1,…Yq-1]进行以下第R轮操作： [Y0,Y1,…Yq-1]奇数位的数值不变，偶数位与奇数位进行或运算，得到[Y′0,Y′1,…Y′q-1]； 经过置换δii移动[Y′0,Y′1,…Y′q-1]的对应块，得到[Z0,Z1,…Zq-1]； 更新Y为[Z0,Z1,…Zq-1]； 若[Y0,Y1,…Yq-1]的q个分量不是全为1，且Rq，则将R赋值为R+1，进入步骤S33，否则输出备选扩散轮数Rejj； 步骤S34：将jj赋值为jj+1，进入步骤S32； 步骤S35：扩散轮数R＝min{Rejj|1≤jj≤q}，并输出R和对应的拉线置换δii； 步骤S36：若Rr，令r＝R，若所有排列置换未处理完，则将排列置换δ更新为δii+1，备选扩散轮数的个数清零，进入步骤S32；否则输出r和对应的排列置换δ。

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