Document
拖动滑块完成拼图
个人中心

预订订单
服务订单
发布专利 发布成果 人才入驻 发布商标 发布需求

在线咨询

联系我们

龙图腾公众号
首页 专利交易 IP管家助手 科技果 科技人才 科技服务 国际服务 商标交易 会员权益 需求市场 关于龙图腾
 /  免费注册
到顶部 到底部
清空 搜索
当前位置 : 首页 > 专利喜报 > 硅实验室公司S·J·莱赫蒂玛基获国家专利权

硅实验室公司S·J·莱赫蒂玛基获国家专利权

买专利卖专利找龙图腾,真高效! 查专利查商标用IPTOP,全免费!专利年费监控用IP管家,真方便!

龙图腾网获悉硅实验室公司申请的专利AoX多径检测获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN115480208B

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-08-08发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202210661506.1,技术领域涉及:G01S5/00;该发明授权AoX多径检测是由S·J·莱赫蒂玛基;A·托里尼;M·T·莱恩西林内设计研发完成,并于2022-06-13向国家知识产权局提交的专利申请。

AoX多径检测在说明书摘要公布了:AoX多径检测。公开了一种用于检测多径环境的系统和方法。创建基于方位角和仰角的第一伪谱。该第一伪谱的结果用于基于极化和场比创建第二伪谱。这两个伪谱的结果的锐度被确定,并且可以用于检测多径环境是否存在。如果认为存在多径环境,则在确定对象的空间位置时忽略来自该设备的结果。

本发明授权AoX多径检测在权利要求书中公布了:1.一种确定设备的空间位置的方法,包括: 从设备发射信号; 由多个定位器设备接收信号,每个定位器设备位于已知位置; 为所述多个定位器设备中的每一个计算信号的到达角,以及与到达角相关联的至少一个良好度值;和 使用所计算的到达角和良好度值中的至少两个来确定设备的空间位置,其中基于所述信号为所述多个定位器设备中的每一个计算第一伪谱以确定到达角,并且其中所述到达角用于为所述多个定位器设备中的每一个计算第二伪谱以确定极化比和极化角,并且其中第一伪谱和第二伪谱用于为所述多个定位器设备中的每一个生成至少一个良好度值。

如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术,可联系本专利的申请人或专利权人硅实验室公司,其通讯地址为:美国德克萨斯州;或者联系龙图腾网官方客服,联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。

免责声明
1、本报告根据公开、合法渠道获得相关数据和信息,力求客观、公正,但并不保证数据的最终完整性和准确性。
2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解,仅供参考使用,不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。