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龙图腾网获悉江西兆驰半导体有限公司申请的专利一种静电放电测试方法、装置及其制备方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN114879016B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-08-08发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202210551692.3，技术领域涉及：G01R31/28；该发明授权一种静电放电测试方法、装置及其制备方法是由赵龙;金从龙;陈万元;骆乾峰;刘思设计研发完成，并于2022-05-20向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种静电放电测试方法、装置及其制备方法在说明书摘要公布了：本发明公开了一种静电放电测试方法、装置及其制备方法，该方法包括将第一测试板的第一电极与第二测试板相对应位置的充电电极一一对位连接；将第一测试板的第一电极区域，以及第二测试板的充电电极区域分别通过导线连接至充放电转换模块；将充放电转换模块调节至充电模式，以对第一测试板进行充电；将待测晶圆的每个芯片的两电极分别与第一测试板的第一电极和第二电极一一对位连接；将第一测试板的第一电极区域，以及第一测试板的第二电极区域分别通过导线连接至充放电转换模块；将充放电转换模块调节至放电模式，以对待测晶圆进行静电放电测试。本发明能够解决现有技术中逐颗发光二极管芯片静电放电测试效率低下和成本高的技术问题。

本发明授权一种静电放电测试方法、装置及其制备方法在权利要求书中公布了：1.一种静电放电测试方法，应用于电极位于同一侧的发光二极管芯片，其特征在于，所述静电放电测试方法包括： 将第一测试板的第一电极与第二测试板相对应位置的充电电极一一对位连接； 将所述第一测试板的第一电极区域，以及所述第二测试板的充电电极区域分别通过导线连接至充放电转换模块，所述第一测试板包括若干第一电极和第二电极，所述第一测试板的边缘设有第一电极区域和第二电极区域，所述第一电极朝向所述第一电极区域设有电极层，所述第一电极于靠近所述第一电极区域一侧设有介质层，通过所述电极层与第一电极区域形成电容储存电荷，所述介质层的介电常数为10-10000C2N·M2，厚度为0.1um-10mm， 任意相邻的第二电极通过引线电连接，所述第二电极与所述第二电极区域通过引线电连接， 所述第一电极于靠近所述第二电极一侧设有隔离层，以阻隔所述第一电极与所述第二电极的连接， 所述第二测试板的边缘设有充电电极区域，任意相邻的充电电极通过引线电连接，所述充电电极与所述充电电极区域通过引线电连接，充电电极与充电电极区域之间设有保护层； 将所述充放电转换模块调节至充电模式，以对所述第一测试板进行充电； 将待测晶圆的每个芯片的两电极分别与所述第一测试板的所述第一电极和第二电极一一对位连接； 将所述第一测试板的所述第一电极区域，以及所述第一测试板的第二电极区域分别通过导线连接至所述充放电转换模块； 将所述充放电转换模块调节至放电模式，以对所述待测晶圆进行静电放电测试。

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