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龙图腾网获悉中广核核电运营有限公司;中国广核集团有限公司;中国广核电力股份有限公司申请的专利卡件的老化状态分析方法、系统、计算机产品及存储介质获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115144782B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-08-08发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202210550407.6，技术领域涉及：G01R31/40；该发明授权卡件的老化状态分析方法、系统、计算机产品及存储介质是由余惠敏;星国龙;宋振华;魏利峰;韩存效;徐超;刘伟;任滈;王明;许林;胡鹏;苗延龙;李顺民设计研发完成，并于2022-05-20向国家知识产权局提交的专利申请。

本卡件的老化状态分析方法、系统、计算机产品及存储介质在说明书摘要公布了：本发明涉及了一种卡件的老化状态分析方法、系统、计算机产品及存储介质，该老化状态分析方法包括：获取测试人员输入的待测卡件的外观检测结果；从红外热成像装置获取待测卡件在工作时的红外图像，并根据红外图像确定待测卡件的红外检测结果；通过测试信号源向待测卡件输入相应的激励信号，并从采集控制装置获取待测卡件相应的响应信号，且根据响应信号确定待测卡件的信号检测结果；根据外观检测结果、红外检测结果和信号检测结果，对待测卡件进行老化状态分析，以获取综合分析结果。实施本发明的技术方案，可减少漏检、过检情况的发生。

本发明授权卡件的老化状态分析方法、系统、计算机产品及存储介质在权利要求书中公布了：1.一种卡件的老化状态分析方法，其特征在于，包括： 获取测试人员输入的待测卡件的外观检测结果； 从红外热成像装置获取待测卡件在工作时的红外图像，并根据所述红外图像确定待测卡件的红外检测结果；根据所述红外图像确定待测卡件的红外检测结果，包括：从所述红外图像中识别出待测卡件的特定元器件，并确定所述特定元器件的发热信息，所述发热信息包括发热值和发热面积和发热时长；将所确定出的所述特定元器件的发热信息与标准卡件的发热信息进行比较，并根据比较结果，确定红外检测评分值； 通过测试信号源向待测卡件输入相应的激励信号，并从采集控制装置获取待测卡件相应的响应信号，且根据所述响应信号确定待测卡件的信号检测结果；根据所述响应信号确定待测卡件的信号检测结果包括：将所获取的所述响应信号与标准卡件的相应响应信号进行比较，并根据比较结果，确定信号检测评分值； 根据所述外观检测结果、所述红外检测结果和所述信号检测结果，对所述待测卡件进行老化状态分析，以获取综合分析结果。

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