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龙图腾网获悉浙江大学申请的专利一种面向Zynq芯片的单配置帧级故障检测与刷新方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN114924917B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-08-08发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202210160929.5，技术领域涉及：G06F11/22；该发明授权一种面向Zynq芯片的单配置帧级故障检测与刷新方法是由楼海君;李萱;金仲和设计研发完成，并于2022-02-22向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种面向Zynq芯片的单配置帧级故障检测与刷新方法在说明书摘要公布了：本发明公开了一种面向Zynq芯片的单配置帧级故障检测与刷新方法，该方法通过对Zynq芯片配置存储器中的数据进行按帧回读，与预先经过解析的原始配置数据进行比较，从而定位出单配置帧中的翻转比特位；随后借助异构处理器可通过软件动态重配置的优点，实现了配置帧级别的故障修复，从而有效修复错误位。

本发明授权一种面向Zynq芯片的单配置帧级故障检测与刷新方法在权利要求书中公布了：1.一种面向Zynq芯片的单配置帧级故障检测与刷新方法，其特征在于，包括以下步骤： 1搭载Zynq芯片的测试电路板上电后，对系统各部分初始化，并将非易失性存储器中预先保存的待检测敏感帧地址加载至Zynq芯片的片上内存中； 2Zynq芯片接收地面测控站发送的启动回读指令，随后进行PCAP接口的配置初始化，包括DevCfg接口的初始化与自测试： 当自测试通过后，会发出测试通过信号，此时可进行后续回读操作；所述的启动回读指令，如果包含配置帧地址，则从配置存储器中回读该地址对应的配置帧数据，然后跳转至步骤3；如果不包含配置帧地址，则跳转至步骤4；所述的配置帧地址为步骤1中的待检测敏感帧地址； 否则，向地面测控站发送配置接口初始化失败信号； 3从非易失性存储器中读取所述配置帧地址对应的原始配置数据，并与从配置存储器中回读出来的数据进行逐位比对，如果比对出错，则向地面测控站返回地址比对出错信息；同时，在回读的最后一个周期计算全局CRC校验值，与原始校验值进行比较，如果CRC校验出错，则从非易失性存储器中加载原始配置文件，执行全局刷新；否则，将错误帧地址对应的配置帧数据进行单帧刷新，进入步骤5； 4首先从Zynq芯片的片上内存中获取预先存放的配置帧地址，根据该地址进行配置存储器的回读，跳转到步骤3；当前地址回读完成后，继续递增到片上内存的下一个地址中，直到所有的地址测试完毕，向地面测控站返回测试完成指令； 5根据当前的配置帧地址，从非易失性存储器中读取该地址对应的配置帧数据，将其保存到片上内存中，并将当前配置帧数据进行空白帧填充，随后将配置帧数据、空白帧以及配置指令包正确组织后，通过PCAP接口传输到配置存储器中，完成单配置帧刷新。

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