同方威视技术股份有限公司张丽获国家专利权
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龙图腾网获悉同方威视技术股份有限公司申请的专利被检物的特征信息的获取方法、装置、设备和介质获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115963121B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-08-08发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202111173973.1，技术领域涉及：G01N23/04；该发明授权被检物的特征信息的获取方法、装置、设备和介质是由张丽;陈志强;常铭;金鑫;黄清萍;许晓飞;洪明志;张立国设计研发完成，并于2021-10-08向国家知识产权局提交的专利申请。
本被检物的特征信息的获取方法、装置、设备和介质在说明书摘要公布了：本公开的实施例涉及辐射检测技术领域，提供了一种被检物的特征信息的获取方法，包括：控制被检物通过检测设备；控制成像系统对被检物进行辐射扫描；获取被检物的辐射扫描图像；通过辐射扫描图像获取被检物的特征信息，其中，被检物包括第一部分、检测部分和第二部分，在控制成像系统对被检物进行辐射扫描的过程中，检测部分在第一方向上位于第一部分和第二部分之间，通过所述辐射扫描图像获取被检物的特征信息包括：通过辐射扫描图像，获取检测部分与第一部分之间的第一分界线以及检测部分与第二部分之间的第二分界线；计算第一分界线与第二分界线之间沿第一方向的尺寸，以获取检测部分沿第一方向的尺寸。
本发明授权被检物的特征信息的获取方法、装置、设备和介质在权利要求书中公布了：1.一种被检物的特征信息的获取方法，其特征在于，包括： 控制所述被检物通过检测设备，其中，所述检测设备用于对被检物进行扫描检测，所述检测设备包括：检测通道，所述被检物通过所述检测通道沿第一方向进出所述检测设备；以及用于对被检物进行扫描检测的成像系统； 控制所述成像系统对所述被检物进行辐射扫描； 获取所述被检物的辐射扫描图像； 通过所述辐射扫描图像获取所述被检物的特征信息， 其中，所述被检物包括第一部分、检测部分和第二部分，在控制所述成像系统对所述被检物进行辐射扫描的过程中，所述检测部分在所述第一方向上位于所述第一部分和所述第二部分之间， 所述通过所述辐射扫描图像获取所述被检物的特征信息包括： 通过所述辐射扫描图像，获取所述检测部分与所述第一部分之间的第一分界线以及所述检测部分与所述第二部分之间的第二分界线； 计算所述第一分界线与所述第二分界线之间沿所述第一方向的尺寸，以获取所述检测部分沿所述第一方向的尺寸。
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