中国科学院物理研究所李子安获国家专利权
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龙图腾网获悉中国科学院物理研究所申请的专利测量纳米磁结构相变过程的激活能和特征弛豫时间的方法和应用获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN114325513B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-08-08发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202011062384.1，技术领域涉及：G01R33/12；该发明授权测量纳米磁结构相变过程的激活能和特征弛豫时间的方法和应用是由李子安;柴可;李俊;田焕芳;杨槐馨;李建奇设计研发完成，并于2020-09-30向国家知识产权局提交的专利申请。
本测量纳米磁结构相变过程的激活能和特征弛豫时间的方法和应用在说明书摘要公布了：本发明提供了一种测量纳米磁结构相变过程的激活能和特征弛豫时间的方法和应用。本发明利用透射电子显微镜洛伦兹模式来观测薄样品的磁相变动力学过程，通过制备纳米级厚度和几何尺寸的薄样品，利用激光辐照热退磁来消去磁相变过程的热滞留效应，准确获得纳米尺度磁结构相变的特征弛豫时间和激活能等动力学参数，为表征磁材料的磁动力学过程和本征磁特性提供新颖且切实可行的方法。
本发明授权测量纳米磁结构相变过程的激活能和特征弛豫时间的方法和应用在权利要求书中公布了：1.一种测量纳米磁结构相变过程的激活能和特征弛豫时间的方法，其特征在于，该方法包括以下步骤： 1从块材样品中制备适合透射电镜观测的纳米厚度试样； 2将步骤1制备的试样固定在可变温的样品杆上，通过调节加热电流设定薄试样的温度T； 3启用洛伦兹工作模式的电镜物镜，通过对其施加电流强度以产生所需的外磁场来实现对试样施加不同强度的外磁场； 4记录试样中磁结构相变完成的时间点tf； 5关闭电镜物镜电流，加热试样至高于试样的居里温度，使试样发生热退磁，使得磁结构恢复到初始状态，去除磁结构相变过程的磁滞影响； 6重复步骤2～5，以获得试样在不同温度下的磁结构相变所需的弛豫时间； 7将不同温度T下测取的磁结构转变时间tf，根据阿伦尼乌斯公式进行拟合，获得样品中磁结构相变热动力学过程的激活能和特征弛豫时间。
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