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当前位置 : 首页 > 专利喜报 > 华芯半导体科技有限公司;华芯半导体研究院(北京)有限公司吴敦文获国家专利权

华芯半导体科技有限公司;华芯半导体研究院(北京)有限公司吴敦文获国家专利权

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龙图腾网获悉华芯半导体科技有限公司;华芯半导体研究院(北京)有限公司申请的专利一种应用于VCSEL芯片的智能化监管系统及方法获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN120028682B

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-08-12发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202510511889.8,技术领域涉及:G01R31/28;该发明授权一种应用于VCSEL芯片的智能化监管系统及方法是由吴敦文;梁高明;王健军;江蔼庭;尧舜;王金昭;田正如设计研发完成,并于2025-04-23向国家知识产权局提交的专利申请。

一种应用于VCSEL芯片的智能化监管系统及方法在说明书摘要公布了:本发明公开了一种应用于VCSEL芯片的智能化监管系统及方法,涉及芯片智能化监管技术领域,包括:获取历史的属于相同规格的若干VCSEL芯片对应的测试记录,从测试记录中提取标记测试记录;将标记测试记录对应的芯片作为标记芯片,得到标记芯片的第一健康值;并根据第一健康值,得到标记芯片的目标值,进而建立第一集合;获取通过当前的采样规则得到的所有目标采样芯片,建立第二集合;根据第一集合和第二集合,判断是否对当前的采样规则进行预警提示。本发明通过对芯片历史的测试记录,结合实际状态与各项性能测试的数值进行分析,判断采样规则是否合理,提高了样本采样的可靠性,以及减小了测试结果与真实整体水平之间的差异性。

本发明授权一种应用于VCSEL芯片的智能化监管系统及方法在权利要求书中公布了:1.一种应用于VCSEL芯片的智能化监管方法,其特征在于,包括以下步骤: 步骤S100:获取历史的属于相同规格的若干VCSEL芯片对应的测试记录,所述测试记录是对芯片的各项性能进行测试之后形成的记录,对测试记录中对应的每一项性能测试的数值进行分析,从测试记录中提取标记测试记录; 步骤S200:将标记测试记录对应的芯片作为标记芯片,对标记芯片在完成测试后,实际投入运行过程中的电气特性项进行检测,得到标记芯片的第一健康值;获取标记芯片在实际投入运行过程中的每一性能指标的数值,并根据第一健康值,得到标记芯片的目标值;进而基于每一标记芯片的目标值,建立第一集合; 步骤S300:获取通过当前的采样规则得到的所有目标采样芯片,并对目标采样芯片在完成测试后,实际投入运行过程中的各项性能测试的数值进行分析,建立第二集合; 步骤S400:根据第一集合和第二集合,计算当前的采样方式的预警系数,并根据所述预警系数,判断是否对当前的采样规则进行预警提示。

如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术,可联系本专利的申请人或专利权人华芯半导体科技有限公司;华芯半导体研究院(北京)有限公司,其通讯地址为:225500 江苏省泰州市姜堰区罗塘街道现代科技产业园(群东路88号);或者联系龙图腾网官方客服,联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。

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