苏州萨沙迈半导体有限公司;合肥智芯半导体有限公司;上海萨沙迈半导体有限公司;天津智芯半导体科技有限公司赵川获国家专利权
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龙图腾网获悉苏州萨沙迈半导体有限公司;合肥智芯半导体有限公司;上海萨沙迈半导体有限公司;天津智芯半导体科技有限公司申请的专利基于BCH编码的数据纠错方法、存储介质和集成芯片获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN119473704B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-08-12发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202510048137.2,技术领域涉及:G06F11/10;该发明授权基于BCH编码的数据纠错方法、存储介质和集成芯片是由赵川;王晓明;何学文设计研发完成,并于2025-01-13向国家知识产权局提交的专利申请。
本基于BCH编码的数据纠错方法、存储介质和集成芯片在说明书摘要公布了:本发明公开了一种基于BCH编码的数据纠错方法、存储介质和集成芯片,涉及芯片设计和应用技术领域,所述基于BCH编码的数据纠错方法包括:获取由BCH编码所得的目标数据,根据所述目标数据的目标向量和预设的校验矩阵,确定所述目标向量对应的各伴随式;若所确定的各伴随式中存在表示数据错误的伴随式,则根据各伴随式生成差错方程;基于所述差错方程的系数构建目标数量个校验方程,将所构建的校验方程分组,对各组校验方程采用同一组求和模块进行求解,得到错误位置数据;根据所述错误位置数据对所述目标数据进行纠错,得到纠错结果。应用本发明实施例提供的方案能够降低实现纠错功能占用的资源。
本发明授权基于BCH编码的数据纠错方法、存储介质和集成芯片在权利要求书中公布了:1.一种基于BCH编码的数据纠错方法,其特征在于,所述方法包括: 获取由BCH编码所得的目标数据,根据所述目标数据的目标向量和预设的校验矩阵,确定所述目标向量对应的各伴随式;其中,所述目标向量基于所述目标数据和所述目标数据对应的校验位数据拼接得到; 若所确定的各伴随式中存在表示数据错误的伴随式,则根据各伴随式生成差错方程; 基于所述差错方程的系数构建目标数量个校验方程,所述目标数量与所述目标向量的比特数一致; 将所构建的校验方程分组,对各组校验方程采用同一组可复用的求和模块进行求解,得到错误位置数据;其中,所述同一组求和模块中,每一求和模块包含一个模乘法器和模加法器; 根据所述错误位置数据对所述目标数据进行纠错,得到纠错结果; 其中,所述每一求和模块中还包含一个寄存器; 对于可复用的求和模块,通过第一选择信号从多组校验方程中选择一组待求解的目标校验方程; 所述目标校验方程按照以下方式采用该求和模块进行求解: 对于所述目标校验方程中包含的第n次模乘计算,采用该求和模块中包含的模乘法器得到中间计算结果,并将所述中间计算结果与寄存器已存储的模加计算结果做模加计算,得到第n次的模加运算结果,并采用第n次的模加计算结果更新所述寄存器存储的模加计算结果; 在完成所述目标校验方程中包含的全部模乘计算后,从寄存器中获取对目标校验方程进行求解的求解结果; 所述方法还包括: 采用钱搜索模块构造各组校验方程; 采用状态机控制钱搜索模块的计算过程并输出译码完成的信号; 状态机的状态个数等于校验方程分组的个数,不同的状态表示选择了不同组校验方程; 所述方法还包括: 如果伴随式的值全部为0,由状态机输出译码完成的信号,并在一个时钟周期内输出纠错结果。
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