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中国计量科学研究院冯秀娟获国家专利权

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龙图腾网获悉中国计量科学研究院申请的专利一种采用电光调制技术的激光测振仪校准方法获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN119642954B

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-08-12发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202411893299.8,技术领域涉及:G01H9/00;该发明授权一种采用电光调制技术的激光测振仪校准方法是由冯秀娟;韩凯冰;何龙标;钟翔;杨平;牛锋;张小丽;李旭设计研发完成,并于2024-12-20向国家知识产权局提交的专利申请。

一种采用电光调制技术的激光测振仪校准方法在说明书摘要公布了:本发明公开了一种采用电光调制技术的激光测振仪校准方法,包括:采用电光调制器或电光调制器的级联组合产生频率范围、量程范围满足校准需求的等效振动信号,校准频率取决于电光调制器的选型,至少可达24MHz,等效振动信号的量程范围可通过提高电光调制器的驱动电压或电光调制器的串联配置实现扩展;软硬件协同实时信号解调系统技术方案,建立幅值和相位延迟均可有效评估的参考标准激光测振仪。本发明实现激光测振仪整机的幅值和相位延迟校准,解决软件解调产生参考信号的技术方案在相位延迟校准中的局限性。

本发明授权一种采用电光调制技术的激光测振仪校准方法在权利要求书中公布了:1.一种采用电光调制技术的激光测振仪校准方法,包括数据采集系统、信号发生器、电光调制器驱动器、电光调制器、反射镜、偏振片、待校激光测振仪和标准激光测振仪,其特征在于:所述方法具体步骤如下: 步骤1、信号发生器产生正弦信号,经电压放大器驱动电光调制器工作; 步骤2、待校激光测振仪和标准激光测振仪的测量光束经分束器合光后,通过偏振片入射到电光调制器,其相位得到调制,经反射镜后再次入射到电光调制器; 步骤3、调制相位加倍,携带调制相位信息的测量光束返回待校激光测振仪和标准激光测振仪,其解调输出的等效速度、位移和加速度信号由数据采集系统同步采集,标准激光测振仪的解调结果作为参考信号以校准待校激光测振仪的幅值响应和相位延迟; 所述标准激光测振仪由过程数据可溯源的激光外差干涉仪和软硬件协同实时信号解调系统构成,还包括AWView上位机、AD采集控制模块、自动增益控制模块、FIR低通滤波器模块、FIR低通滤波器模块和CIC抽取模块,偏振片用于使光束偏振方向与电光晶体主轴一致;解调步骤包括如下:AWView上位机通过PCIe接口控制AD采集控制模块、自动增益控制模块、用于解调的FIR低通滤波器模块、用于输出的FIR低通滤波器模块和CIC抽取模块,从而可以根据具体的应用场景选择不同参数的FIR滤波器及数据抽取倍数。

如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术,可联系本专利的申请人或专利权人中国计量科学研究院,其通讯地址为:100029 北京市朝阳区北三环东路18号;或者联系龙图腾网官方客服,联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。

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