北京智芯微电子科技有限公司钟文琦获国家专利权
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龙图腾网获悉北京智芯微电子科技有限公司申请的专利车载电子标签测试装置、测试方法和电子设备获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119358573B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-08-12发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202411255327.3，技术领域涉及：G06K7/00；该发明授权车载电子标签测试装置、测试方法和电子设备是由钟文琦;李延;李建强;曲胜波;周斌;宋亚;董瀚设计研发完成，并于2024-09-09向国家知识产权局提交的专利申请。
本车载电子标签测试装置、测试方法和电子设备在说明书摘要公布了：本发明提供一种车载电子标签测试装置、测试方法和电子设备，属于车载电子标签技术领域。其中装置包括：测试环境创建模块，用于根据第二测试类型选择指令创建ESAM逻辑单元测试所需要的第一测试环境和或创建ICC逻辑单元测试所需要的第二测试环境；ESAM逻辑单元功能集模块，用于在第一测试环境中执行ESAM逻辑单元中的第一预设测试用例的测试；ICC逻辑单元功能集模块，用于在第二测试环境中执行ICC逻辑单元中的第二预设测试用例的测试；交叉功能模块，用于交替在第一测试环境和第二测试环境之间进行第三预设测试用例的测试。本发明用以解决现有车载电子标签测试均需使用两个软件测试，配置不灵活，自动化水平较低的缺陷。
本发明授权车载电子标签测试装置、测试方法和电子设备在权利要求书中公布了：1.一种车载电子标签测试装置，其特征在于，包括： 测试类型选择模块，用于接收车载电子标签的第一测试类型选择指令和逻辑单元的第二测试类型选择指令； 测试环境创建模块，用于根据所述第二测试类型选择指令创建ESAM逻辑单元测试所需要的第一测试环境和或创建ICC逻辑单元测试所需要的第二测试环境； ESAM逻辑单元功能集模块，用于在所述第一测试环境中执行双片式车载电子标签或多逻辑通道车载电子标签的ESAM逻辑单元中的第一预设测试用例的测试； ICC逻辑单元功能集模块，用于在所述第二测试环境中执行双片式车载电子标签或多逻辑通道车载电子标签的ICC逻辑单元中的第二预设测试用例的测试； 交叉功能模块，用于在所述第一测试类型选择指令表征测试类型是多逻辑通道车载电子标签以及第二测试类型选择指令表征进行交叉单元测试的情况下，交替在所述第一测试环境和所述第二测试环境之间进行第三预设测试用例的测试。
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