天津中环领先材料技术有限公司;中环领先半导体科技股份有限公司田浩获国家专利权
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龙图腾网获悉天津中环领先材料技术有限公司;中环领先半导体科技股份有限公司申请的专利一种晶片电阻率多点测量分选装置获国家实用新型专利权,本实用新型专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN223209974U 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-08-12发布的实用新型授权公告中获悉:该实用新型的专利申请号/专利号为:202421955025.2,技术领域涉及:B07C5/00;该实用新型一种晶片电阻率多点测量分选装置是由田浩;张久武;王玲云;刘礼明;王红叶;宋长旭;刘鹏程;王崇山;东士博;张碧波;李文磊;董旭设计研发完成,并于2024-08-13向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种晶片电阻率多点测量分选装置在说明书摘要公布了:本实用新型公开了一种晶片电阻率多点测量分选装置,包括上料机构、下料机构、检测机构和搬运机构,上料机构包括上料输送线,下料机构包括与上料输送线平行设置的下料输送线,检测机构设于上料输送线和下料输送线的外侧,检测机构用于不同规格晶片电阻率多点测量;搬运机构设于检测机构的内侧,搬运机构用于将上料输送线上晶片放至检测机构和将检测机构处晶片放至下料输送线;下料输送线上设有PN检测组件,PN检测组件位于检测机构的下游。本申请能够实现不同规格晶片的电阻率多点自动测量并根据检测机构结果自动分选下料,自动区分晶片PN类型,自动化程度高,降低人工投入;产能提升,提高产品流转效率;提高产品质量,统一检验标准。
本实用新型一种晶片电阻率多点测量分选装置在权利要求书中公布了:1.一种晶片电阻率多点测量分选装置,其特征在于:包括上料机构、下料机构、检测机构和搬运机构,所述上料机构包括上料输送线,所述下料机构包括与上料输送线平行设置的下料输送线,所述检测机构设于所述上料输送线和下料输送线的外侧,所述检测机构用于不同规格晶片电阻率多点测量;所述搬运机构设于所述检测机构的内侧,所述搬运机构用于将上料输送线上晶片放至检测机构和将检测机构处晶片放至下料输送线;所述下料输送线上设有PN检测组件,所述PN检测组件位于检测机构的下游。
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