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龙图腾网获悉苏州徴格半导体有限公司;上海徴格半导体有限公司申请的专利一种基于频谱分析的相位噪声测量方法及系统、存储介质获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN118534397B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-08-12发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202410717519.5，技术领域涉及：G01R35/00；该发明授权一种基于频谱分析的相位噪声测量方法及系统、存储介质是由张睿设计研发完成，并于2024-06-04向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种基于频谱分析的相位噪声测量方法及系统、存储介质在说明书摘要公布了：本发明提供的基于频谱分析的相位噪声测量方法及系统、存储介质，其中方法步骤包括：迭代计算及ADC工作频率；设ADC芯片工作频率为，读取数据获取输入信号频率点对应的索引值SI；根据FFTL的相位噪声点数据长度是否与RBW重合，记录FFTL中SI第一或第二范围的相位噪声点数据至相位噪声表PNL，并对应跳出循环或继续迭代计算；同理将ADC芯片频率设置为F，获取对应索引值NSI；记录NSI第三范围的相位噪声点数据至PNL中；设置相位噪声索引表PNIL记录PNL中相位噪声点数据value对应的数据索引、测量频率及分辨率带宽；根据value索引PNIL计算对应相位噪声。

本发明授权一种基于频谱分析的相位噪声测量方法及系统、存储介质在权利要求书中公布了：1.一种基于频谱分析的相位噪声测量方法，步骤包括： 根据当前可处理的最大数据长度S及ADC芯片的工作频率F，确定分辨率带宽RBW； 根据预设迭代条件N，迭代计算包括： 当前条件下的及ADC工作频率； 其中预设迭代条件N为： 初始条件为N=0，终止条件为NP，每次迭代N加1，其中P=ceillog10FS； 其中及的计算步骤包括： 计算=a*； 计算=*S； 其中a为频率Hz调整参数且a0； 将ADC芯片工作频率设置为，读取数据建立频率数据表FFTList，获取其中输入信号频率点对应的索引值SI； 当判断FFTList的相位噪声点数据长度与RBW重合时，记录FFTList中SI第一范围的相位噪声点数据至相噪表，跳出循环、否则记录SI第二范围的相位噪声点数据至相噪表，继续迭代计算； 其中索引值SI的第一范围：SI+1至SI+1+RBW；索引值SI的第二范围：SI+1至SI+a*；其中a为频率Hz调整参数且a0； 其中判断FFTList的相位噪声点数据长度是否与RBW重合的步骤包括：计算相位噪声点数据长度PNDataLength=FS-SI-1；其中FS为当前可处理的最大数据长度S的一半；仅当PNDataLength*≥RBW时，判断PNDataLength与RBW重合； 将ADC芯片工作频率设置为F，读取数据建立频率数据表NFFTList，获取其中输入信号频率点对应的索引值NSI；记录NSI涵盖关注的测量频率范围的相位噪声点数据至相噪表中；其中索引值NSI涵盖关注的测量频率范围为：NSI+1至NSI+a*10*RBW，其中a为频率Hz调整参数且a0； 设置相噪索引表记录相噪表中相位噪声点数据value对应的数据索引、测量频率freq及分辨率带宽rbw； 根据value索引相噪索引表计算对应相位噪声，步骤包括：根据测量频率从相噪表中获取对应value，计算对应相位噪声PN=value-10*log10rbw-fund，其中fund为基波信号值。

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