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龙图腾网获悉海宁集成电路与先进制造研究院申请的专利芯片外观检测装置、芯片及芯片外观检测方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN117110292B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-08-12发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202310961246.4，技术领域涉及：G01N21/88；该发明授权芯片外观检测装置、芯片及芯片外观检测方法是由周培松;许燚赟;张文昊设计研发完成，并于2023-08-01向国家知识产权局提交的专利申请。

本芯片外观检测装置、芯片及芯片外观检测方法在说明书摘要公布了：本申请提供一种芯片外观检测装置、芯片及芯片外观检测方法。检测装置包括：芯片装夹部件和第一光学检测器，第一光学检测器设置在芯片装夹部件的一侧，用于在第一位置对芯片装夹部件上的芯片进行外观检测；芯片装夹部件包括：旋转盘、定位齿和固定架；旋转盘用于传输芯片至与第一位置对应的第二位置以使第一光学检测器对芯片进行外观检测，旋转盘沿周向均匀设有定位齿，定位齿朝向固定架的侧面均设有遮光部，遮光部用于遮挡透射过芯片的光线；相邻的定位齿之间设有沿旋转盘的周向转动连接的固定架以及供固定架转动至遮光部的转动空间，固定架用于固定芯片。利用遮光部实现对透射过芯片电路板的光线进行遮挡，对芯片外观有效成像，避免光线干扰。

本发明授权芯片外观检测装置、芯片及芯片外观检测方法在权利要求书中公布了：1.一种芯片外观检测装置，其特征在于，包括：芯片装夹部件和第一光学检测器，所述第一光学检测器设置在所述芯片装夹部件的一侧，用于在第一位置对所述芯片装夹部件上的芯片进行外观检测； 所述芯片装夹部件包括：旋转盘、定位齿和固定架； 所述旋转盘用于传输所述芯片至与所述第一位置对应的第二位置以使所述第一光学检测器对所述芯片进行外观检测，所述旋转盘沿周向均匀设有定位齿，所述定位齿朝向所述固定架的侧面均设有遮光部，所述遮光部用于遮挡透射过所述芯片的光线； 相邻的所述定位齿之间设有沿所述旋转盘的周向转动连接的固定架以及供所述固定架转动至所述遮光部的转动空间，所述固定架用于承载芯片并使所述芯片在所述第二位置贴靠在相应的所述遮光部上； 所述第一光学检测器包括悬臂座、第一移动座、相机模组、偏光镜、环形光源以及棱镜； 所述悬臂座朝向所述旋转盘的一侧设有第一移动座，所述第一移动座与所述悬臂座滑动连接，所述第一移动座朝向所述旋转盘的方向依次设有相机模组、偏光镜、环形光源以及棱镜，其中所述环形光源的出光方向朝向所述棱镜，所述偏光镜位于所述相机模组的采集方向上； 所述第一移动座靠近所述旋转盘的一端设有第二移动座，所述棱镜的端部固定设置在所述第二移动座上，所述第二移动座与所述悬臂座滑动连接，且所述第二移动座的移动方向所在平面与贴靠有芯片的所述遮光部所在平面平行； 所述定位齿包括第一面板和第二面板，所述第一面板远离所述旋转盘的一端向靠近所述第二面板一侧倾斜，所述第二面板远离所述旋转盘的一端向靠近所述第一面板一侧倾斜，所述第一面板和所述第二面板之间设有隔板，所述第一面板和所述第二面板分别与所述隔板之间形成容纳腔，所述容纳腔中贯穿所述第一面板和第二面板分别均设有电磁体，所述电磁体连接有电源。

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