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龙图腾网获悉JCET星科金朋韩国有限公司申请的专利半导体装置和用于改进的天线测试的方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN117783696B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-08-12发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202310783865.9，技术领域涉及：G01R29/10；该发明授权半导体装置和用于改进的天线测试的方法是由宋镇赫;南德祐;徐永恩设计研发完成，并于2023-06-29向国家知识产权局提交的专利申请。

本半导体装置和用于改进的天线测试的方法在说明书摘要公布了：本公开涉及半导体装置和用于改进的天线测试的方法。通过将封装内天线AiP模块安放在测试天线下方来测试半导体装置。利用AiP模块的第一天线传送第一信号。测试天线被移动到第一信号的功率输出峰值。利用AiP模块的第二天线传送第二信号。在测试天线的第二方向轴保持静态的同时，测试天线沿着第一方向轴从第一信号的功率输出峰值被移动到第二信号的功率输出峰值。在测试天线处于第一信号的功率输出峰值的同时测试AiP模块的第一天线。在测试天线处于第二信号的功率输出峰值的同时测试AiP模块的第二天线。

本发明授权半导体装置和用于改进的天线测试的方法在权利要求书中公布了：1.一种测试半导体装置的方法，包括： 将封装内天线AiP模块安放在测试系统的测试天线下方； 通过以下步骤来校准所述测试系统： 利用所述AiP模块的第一天线传送第一信号， 移动所述测试天线以找到所述第一信号的功率输出峰值， 存储针对第一方向轴和第二方向轴二者的所述第一信号的所述功率输出峰值的坐标， 中断利用所述第一天线传送所述第一信号， 在中断利用所述第一天线传送所述第一信号之后，利用所述AiP模块的第二天线传送第二信号， 在沿着所述第二方向轴的所述测试天线的位置保持静态的同时将所述测试天线沿着所述第一方向轴从所述第一信号的所述功率输出峰值移动到所述第二信号的功率输出峰值，并且 针对所述第二信号的所述功率输出峰值仅存储沿着所述第一方向轴的第一坐标；以及 在校准所述测试系统之后通过以下步骤来测试所述AiP模块： 将所述测试天线返回到所述第一信号的所述功率输出峰值的存储的坐标， 在所述测试天线处于所述第一信号的所述功率输出峰值的同时测试所述AiP模块的所述第一天线， 将所述测试天线沿着所述第一方向轴移动到所述第二信号的功率输出峰值的存储的第一坐标，并且 在所述测试天线处于所述第二信号的所述功率输出峰值的同时测试所述AiP模块的所述第二天线。

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